【納入実績】計測・制御機器　イメージセンサ検査用 標準光源装置

半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置。

CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、 近赤外線センサなどの半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置です。 光源装置は、半導体製造前工程テスト（ウェハの電気的特性試験）や、 後工程テスト（パッケージの電気的機能試験）、R＆D評価試験などで、 テストシステム装置と接続して使用されます。 各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照...

メーカー・取り扱い企業： 応用電機株式会社 神奈川事業部（大和工場）