FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展

PR受入検査から工程管理、最終製品検査までのさまざまな段階のモニタリングに…

『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の NIR分光計です。 製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、 製造のばらつきを改善。 固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、 ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。 【特長】 ■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性 ■RockSolidテク...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

SCAMERA-MD

非接触にサブミクロン精度で高さを測る 対象物表面の微細な凹凸を高精度…

3D加飾に最適な高精度3Dスキャニング・システム 3D加飾、エンボス用途に最適 最大450mm×450mmサイズの対象物をスキャニング 微細な凹凸のある対象物の表面検査にも活用できます。 SCAMERA-MD（スキャメラ-エムディー）は、対象物表面の3次元情報を非接触にサブミクロン精度で測定するスキャナーです。 ステージ上にセットされた対象物（最大450mm×450mmエリア)を水平(X-Y)方向...

メーカー・取り扱い企業： ニューリー株式会社