FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展

PR受入検査から工程管理、最終製品検査までのさまざまな段階のモニタリングに…

『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の NIR分光計です。 製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、 製造のばらつきを改善。 固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、 ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。 【特長】 ■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性 ■RockSolidテク...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

画像検査システム『CLIP』

「フルカラー」「高解像度」「高速」な画像解析！寸法測定やLCD検査など…

ジャパンシステム株式会社では、画像処理、波形自動処理判定、 お客様のニーズに従ったシステムを設計、製作し提供しています。 『CLIP（クリップ）』は、モノクロラインカメラ（16K画像解像度）です。 当社開発の高輝度マルチカラー照明を採用しカラー画像化を実現。 検査用ソフトはユーザーのご要望にカスタマイズします。 【特長】 ■モノクロラインカメラ（16K画像解像度） ■当社...

メーカー・取り扱い企業： ジャパンシステム株式会社