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光が通れば何でも断面計測！薄膜から厚板まで！
※ WLI：White Light Interferometer ［低コヒーレント光干渉による断層画像化法］ 千葉大学 椎名研究室との共同開発 【透光性層構造の計測】 ■計測深度：最大14mm ■分解能：深さ方向15μm ■サンプリング周波数：15Hz ■使用波長：1310nm(標準)850nm ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社精光技研
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