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【書籍】先端半導体製造プロセスの動向と微細化(No.2220)
PR【試読できます】-成膜技術、リソグラフィ、エッチング、CMP、洗浄-
書籍名:先端半導体製造プロセスの最新動向と微細化技術 --------------------- ★ムーアの法則の限界が叫ばれる中、微細化技術の開発はどこまで続くのか! 新構造、新材料の適用が進む、先端半導体製造「前工程」の最新技術を網羅した一冊 --------------------- ■ 本書のポイント 1 ・EUVリソグラフィの最新動向とレジスト、マスク、光源の技術課題 ・これ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社技術情報協会
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半導体製造工程で使用される液冷システムに特化し開発されたステンレス・ス…
セインのウルトラフローSCは、ネジ接続またはダブルフェルールチューブフィッティング付きのウルトラフロー特別バージョンです。半導体製造工程で使用される液冷システム向けに特別設計されたステンレス・スチール製です。フラット・フェースデザインのため付け外しの際に液だれがなく、クリーン環境汚濁防止、高い地球温暖化係数を持つ液体冷媒の漏出防止に有効です。また、低圧力損失かつ高い流量特性により、システム全体のエ...
メーカー・取り扱い企業: セインジャパン 株式会社
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半導体製造装置やMEMS圧力センサの計測試験/ライン検査に圧力コントロ…
【MEMS圧力センサの校正検査工程の自動化に】 現在高需要の車載圧力センサ。ドラックの圧力コントローラPACEでエンド・ライン検査を効率化しませんか?試験を自動化することで生産コストが各段に削減できます。生産ラインの拡張の機会にぜひご相談ください。 ■複数チャンネルの圧力計測・校正に:圧力コントローラ PACE シリーズ ■圧力制御スピード:他社製品の最大5.5倍 ■ポータブルに使...
メーカー・取り扱い企業: 日本ベーカーヒューズ株式会社&ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社 (旧)GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ株式会社 & GEエナジー・ジャパン株式会社
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【納入実績】計測・制御機器 イメージセンサ検査用 標準光源装置
半導体の性能試験(検査)をする際に使用する光源装置。
CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、 近赤外線センサなどの半導体の性能試験(検査)をする際に使用する光源装置です。 光源装置は、半導体製造前工程テスト(ウェハの電気的特性試験)や、 後工程テスト(パッケージの電気的機能試験)、R&D評価試験などで、 テストシステム装置と接続して使用されます。 各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照...
メーカー・取り扱い企業: 応用電機株式会社 神奈川事業部(大和工場)
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アルミニウムシリコンカーバイド(AlSiC)は、熱膨張係数(CTE)が…
当社(Global Info Research)の最新調査によると、半導体装置向けAl-SiC金属マトリックス複合材料の世界市場規模は2022年に1600万米ドルと評価され、レビュー期間中にCAGR 5.1%で2029年までに2300万米ドルの再調整規模になると予測されます。COVID-19とロシア・ウクライナ戦争の影響は、市場規模を推定する際に考慮しました。 本レポートは、世界の半導体装置...
メーカー・取り扱い企業: GlobaI Info Research有限会社 Global Info Research
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実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減&歩留まり向上…
『CIシリーズ』は、チップトレイに収納された個片ベアチップの外観品質検査を行い、良品/不良品に分類する装置です。 検出事例・・・エッジクラック、欠け、傷、異物付着、変色等 標準搭載されたマルチアングル照明を使い、製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定可能。 半導体ベアチップ製造メーカ様・受託メーカ様の出荷前検査に最適な装置です。 対象製品例)パワーデバイス、IC、イ...
メーカー・取り扱い企業: 日精株式会社 本社
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