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    走査電子顕微鏡観察の受託サービス|JTL

    SEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。

    走査電子顕微鏡観察サービスでは、SEMやFE-SEMを使用して、試料の表面の高倍率形態観察を行います。 SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。FE-SEM観察では走査型電子顕微鏡(SEM)より高倍率での観察が可能で、さらにEBSDによる結晶方位解析も実施可能です。また、SEM/FE-SEMに付属するEDXにて、元素分析を行うことも可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

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