• 半導体レーザ・光デバイス用3Dシミュレーター PICS3D 製品画像

    半導体レーザ・光デバイス用3Dシミュレーター PICS3D

    PR新たにクロスライト社のFDFDが加わり、FDTDより計算がかなり速く高…

    <主な特徴> ■共振器方向の効果が重要なデバイスの設計・解析に適しています ■モード結合理論と多層膜光学理論によりDFB,DBR,VCSELのような回折格子を 含むレーザダイオードが計算可能 <多様な物理モデルや機能> ■ウェーブガイド・グレーティングの結合係数(1次、2次のグレーティング) ■縦方向のキャリア密度分布、主・副縦モードについての光学利得と光強度 ■2次グレーテ...

    メーカー・取り扱い企業: クロスライトソフトウェアインク日本支社

  • 【部品加工×不良率低減】不良情報の活用で生産性向上&コスト削減 製品画像

    【部品加工×不良率低減】不良情報の活用で生産性向上&コスト削減

    PR不良の分析とデータ管理も生産管理システムで!

    検査工程での発見では遅い…とお悩みの企業様にご提案です。 【その課題『TECHS-BK』が解決】 ☑ ハンディターミナルを活用し、工程実績登録時に「不良数」や「不良理由」を登録 ☑ 不良分析グラフで、品番(図番)や設備、工程ごとの不良率を出力 ☑ 不良報告書として、「原因・対策・不良の参考資料」などをデータ保存可能 ☑ 過去に不良が生じた品番は、次回の受注時に不良履歴や注意事項を参照可能 ☑ 過...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社テクノア 岐阜本社 東京本部 大阪支店 九州支店

  • 【資料】IEC 61000-4-2 Ed.2 規格概要 製品画像

    【資料】IEC 61000-4-2 Ed.2 規格概要

    IEC 61000-4-2 Ed.2の試験規格について入りで詳しく解…

    当資料は、IEC 61000-4-2 Ed.2の試験規格について掲載しております。 低い相対湿度環境で、化学繊維の絨毬、衣料などが使用されるような 条件により、操作者から直接、あるいは近接物体から発生する 静電気放電に対する電子機器のイミュニティ評価に適用される規格です。 試験レベルをはじめ、試験用発生器および波形の検証など 詳しく解説しています。 【掲載内容】 ■一般事...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ノイズ研究所(NoiseKen)

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    【資料】ISO 10605 Ed.2 規格概要

    試験のセットアップなど!ISO 10605 Ed.2試験規格について

    当資料は、ISO 10605 Ed.2試験規格について掲載しております。 当規格は、帯電した人体から電子機器に放電する静電気現象を 想定し、その際に発生する電流波形を再現するための回路を用いて 試験を行うことを規定しています。 概要をはじめ、試験レベルや発生器の仕様および出力波形の検証など、 詳しく解説しています。 【掲載内容】 ■一般的事項 ■試験レベル ■発生器の...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ノイズ研究所(NoiseKen)

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