小型真空蒸着装置『HVE-100』【クリーンな成膜を実現！】

PRクリーンな成膜が可能な小型真空蒸着装置！シャッタを具備しているので安定…

『HVE-100』は省スペースな小型蒸着装置です。基板成膜面は下向きで 設置、抵抗加熱源からの蒸発で上向きに成膜する配置（デポアップ）です。 シャッタを具備しているので安定した状態で蒸着が可能です。 【特長】 ■高真空排気系：<10^-4Paの到達真空度でクリーンな成膜が可能 ■チャンバはメンテナンスしやすいようにSUS製で内部に防着板を配置 ■省スペース/小型化：W500×D39...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ハイブリッジ 東京営業所

SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器

PR裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定

【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

『膜厚計の基礎知識　膜厚測定の原理』メッキ、塗装、宝飾等で活躍！

【膜厚計の基礎知識　膜厚測定の原理】無料進呈中！膜厚計の選定に役立つ一…

膜厚測定の原理では、電磁式・渦電流式・渦電流位相式・ホール効果磁気式・電気抵抗式・蛍光Ｘ線式・電量分析式（電解式）など測定物に合わせた様々な膜厚測定の原理をご紹介します。 【測定の対象】 ■磁性金属（鉄、鋼など）素地上の非磁性皮膜（メッキ、ペイント、樹脂膜など） ■非磁性金属（アルミ、銅、オーステナイト系ステンレスなど）素地上の絶縁皮膜（塗膜、樹脂膜、アルマイトなど） ■Fe上のZn、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

導電膜シート『TP-CM3100シリーズ』

測定対象検体の性能を正確に測定できる固体電解質評価用界面抵抗コントロー…

『TP-CM3100シリーズ』は、固体電解質評価用の界面抵抗コントロール 導電膜シートです。 集電箔や正負極電極の界面に合わせるだけで、測定対象検体の性能 (バルク抵抗)を正確に測定することができます。 測定時間のスピードアップと測定結果の正確さに貢献できる当製品を ご活用下さい。 【特長】 ■固体電解質評価用 ■測定対象検体の性能を正確に測定可能 ■測定時間のスピー...

メーカー・取り扱い企業： パイオトレック株式会社

ピンホール探知器『マイクロチェッカー KS1』

塗装膜、樹脂等の可塑剤抜けによる経年劣化度検査に適したピンホール探知器

『マイクロチェッカー KS1』は、水を抵抗媒体としたピンホール検査、 または塗装膜、樹脂等の可塑剤抜けによる経年劣化度検査に適した ピンホール探知器です。 紙パック製品、プラスチック・ゴム容器製品などにご使用いただけます。 【特長】 ■低電圧検査では得られない特色 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...【仕様の一例】 ■方式：直流高電圧式...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サンコウ電子研究所

ピンホール探知器『ピンホールテスタPHシリーズ』

受注生産品！探知電圧が低く塗膜を傷めない湿式電気抵抗法ピンホール探知器

『ピンホールテスタPHシリーズ』は、一般に200μm（又は500μm）以下の 薄い絶縁性皮膜のピンホール探知・検査に用いられるピンホール探知器です。 探知電圧が低く塗膜を傷めないので、一般車輌、家具、什器、缶、容器、 一般建築、建材、機械、構造物の防錆、防食、その他の保護膜の ピンホール探知、試験、検査に広く使用されています。 【特長】 ■湿式電気抵抗法 ■知電圧が低く塗膜を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サンコウ電子研究所

FastGateインライン向けＣＶ・ＩＶ測定装置ECV-2500

FastGate　インライン向けＣＶ・ＩＶ測定装置

電極形成が不要な上、ウエハーにダメージを与えず、コンタミネーションも残さないことからインラインで使用出来る装置です。 ...ＵＳＬ（極浅層<40nm）のイオン注入、低ドース・イオン注入のドース量モニタリング、極薄酸化膜（<20Å）の電気的膜厚測定 SiON 膜，High k膜の誘電率測定、Epi の 抵抗率測定などが可能です。 主な測定・評価項目 ・電気的膜厚（CET/EOT) ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

非接触CV測定装置 Cn0CV

非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置。 鉄濃度測定の感度はD…

世界に400台以上の実績を持つ非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置です。 鉄濃度測定の感度はDSPVを採用することでE8を実現し、近年のCMOSイメージセンサーの歩留まり向上に寄与しております。 化合物半導体のCV測定が可能です。非接触で面内の濃度分布、プロファイル測定が可能です。...【特徴】 ■非接触CV/IVインライン測定 ■超高感度汚染管理（E8レベル鉄濃度測定） ■パタ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

水銀プローブCV/IV測定装置『MCVシリーズ』

水銀プローブにより電極の形成が不要！R&Dにおける開発時間の短縮、Lo…

『MCV-530/530L/2200/2500』は、半導体シリコンウェハーの電気特性や MOSデバイスの酸化膜等の特性評価を可能にする装置です。 従来ではウェハーにゲート電極としてPoly-SiやAl等を蒸着し、MOS構造・ ショットキー構造形成後にCV/IV特性評価を行っておりました。 当製品は、装置自身がゲート電極を持つため、メタルゲート作成なしに 酸化膜やウェハーの電気特性...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

精密部品の電気メッキ（表面処理）もバレルメッキで！スーパーバレル

精密部品のバレルメッキで困っていることはありませんか？バレルメッキで今…

『スーパーバレル』は、従来難しいとされている精密部品（電気・半導体部品）に、とても均一で密着性の良い高品質なメッキ・表面処理を実現できます。 チップコンデンサやチップ抵抗など精密部品の電気メッキ（表面処理）は、あまりにも小さく均一性と不良率に問題を抱えていました。共和機器製作所の『スーパーバレル』では、バレルメッキの特徴となるメッキ効率の高さは維持しながら、精密部品・極小部品の不良率を改善し...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社共和機器製作所

タッチパネル試験装置 　TP-T100

●LCDへのタッチパネル貼り付け位置の評価や、タッチパネルセンサのリニ…

座標値の差を読み取ることで、タッチパネルの評価を行います。LCDに対してのタッチパネルシート貼り付け位置の評価や、タッチパネルセンサの走査線のリニアリティ評価などが行えます。 ・　静電容量方式と抵抗膜方式のどちらのタッチパネルにも対応しています。 ・　パソコンへ専用ソフトをインストールして、専用ソフトから制御します。 ・　タッチパネルのピクセル数の設定と、ピクセルサイズをXY個別に0.00...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社タッチテック

Junction Photo Voltage(JPV)

JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、…

JPV法（ジャンクション・フォト・ボルテッジ法）を用いているため、高速で再現性の良いマッピング測定が可能です。 【特徴】 - 非接触、非破壊測定 - プローブの調整は不要 - 測定のための特別な試料準備は不必要 - 表面に酸化膜やコーティングが存在しても測定可能 - 空間分解能の高い分布測定（マッピング）が高速で可能 - 再現性の高い測定が可能 - セミラボ社のベンチトッププラ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

【X線透視・CT検査装置】チップ抵抗の観察事例

立体的に観察ができるため解析に有効なCT観察！チップ抵抗の観察事例をご…

X線透視・CT検査装置によるチップ抵抗の観察事例をご紹介します。 チップ抵抗は、セラミックスの表面に薄膜状の金属膜(抵抗体)が形成された構造で、 X線像で見られるL字状の線は抵抗値を調整するために施されたトリミング痕です。 CT観察では、所望の断層図を見れて立体的に観察できるため、解析に有効。 X線観察やCT観察で不具合箇所が見つかれば、断面観察や元素分析を行い、 原因を調査...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

自動機製品事例「タッチパネル検査機」

パネル取り換え時間を短縮！高速検査が可能なタッチパネル検査機

当検「タッチパネル検査機」は、タッチパネル製品の感度を検査する際に使用する装置です。 この装置では、アナログ抵抗膜式タッチパネルにおける絶縁抵抗、膜抵抗、直線性を測定し、規定値に対して合否判断を行うことができます。 この検査機のポイントは、2台の検査台を交互に使用することができることです。2台の検査装置...

メーカー・取り扱い企業： 共栄制御機器株式会社