FE-EPMAによる受託サービス｜JTL

電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）による微少領…

FE-EPMA（電界放出型電子プローブマイクロアナライザ）を使用して、SEM像の撮影及びWDX（波長分散型X線分析装置）による元素分析を行います。 EDXによる元素分析よりも定量精度が良く（±数100ppm～数1,000ppm）、汎用型のEPMAよりも分析の空間分解能が良い（サブミクロンオーダー）ことが特徴です。 厚みが数100nmの薄膜の断面分析や、接合部分の微量元素の拡散状態の分析などにご...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

分析サービス｜JTL

解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評…

精密研磨やイオンミリング、FIBなどによる高度な試料調整から、SEMやEPMAなどを用いた観察分析まで一貫して対応しています。 また、SATやＸ線ＣＴによる非破壊の内部構造観察も対応可能です。化学分析では、FT-IRやICP、GC、HPLCなどによる対象成分の各種分析を行います。...【非破壊解析】 非破壊でしか得ることのできない製品の内部構造に関する情報を調査・提供します。 [設備] S...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社