光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

LEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステムです。...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

マイクロスコープ (光学ズーム式 金属顕微鏡 12×)

低倍率から高倍率まで鮮明な画像を得ることができる高解像度ズーム式金属顕…

対物レンズの開口数と長作動距離を最適化することにより、既存の顕微鏡やレンズを超えたアプリケーション（故障解析、外観検査、超低温～高温試験）などの幅広い用途にご使用頂けます。 ズーム時の中心追随と同焦点の安定性を図り、手動から自動などの検査工程の効率化に大きく貢献致します。また、近赤外透過に対応した製品A...

メーカー・取り扱い企業： 東機通商株式会社

プローバー用導電性ナノプローブ

プローバー用導電性ナノプローブ

マイクロおよびナノスケールでの多探針を用いたサンプル表面へのプロービングは、半導体デバイスの故障解析のための表面電気特性測定等、半導体デバイスの研究開発および生産の分野で活用されています。近年、デバイス構造の微細化に伴い、検査用プローブの先鋭化、表面酸化膜の抑制などプローブに要求される仕様も高ま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ユニソク