卓上型X線検査装置『EMTシリーズ』

PRコンパクトながら高解像度・高濃度分解能。画像処理・計測ソフトを標準装備

『EMTシリーズ』はSOFTEX製マイクロフォーカスX線源搭載の コンパクトな卓上型X線検査装置です。 高解像度フラットパネルを採用した「Fタイプ」、 高精細デジタルセンサー採用の「Rタイプ」をラインアップしております。 【特長】 ■最新型のSOFTEX製画像処理・計測ソフトを標準装備 ■高解像度・高濃度分解能を実現 ■操作は全てパソコン制御のため簡単 ※製品につい...

メーカー・取り扱い企業： ソフテックス株式会社 営業本部

EMI（エミッション）トータル試験システム　MR2300

PR手近なところでノイズ対策！EMIは事前試験で効率アップ。

MR2300は当社のスペクトラムアナライザ技術、電波暗箱技術およびアンテナ技術を結集した統合システムです。 EMIトータル試験システム ＭR2300の特長 ■追加設備のいらないEMIトータル試験システム アンテナ、EMI用スペクトラムアナライザ、LISN、EMI用PCソフトウェアのみならず、電波暗箱まで全てが揃ったトータル試験システム ■自社開発の小型・広帯域アンテナ 30M...

メーカー・取り扱い企業： マイクロニクス株式会社

［ICP-MS］誘導結合プラズマ質量分析法

導結合プラズマ（ICP）を励起源として用いた無機元素分析の手法です

ICP-MSは溶液を分析するため、固体分析では作製が難しい標準試料を比較的容易に調製することが可能です。そのため、溶液中の極微量な無機元素を精確に定量する場合に頻繁に用いられています。 ・高感度・低バックグラウンドな測定が可能なため、無機元素分析用装置と...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

糖類-容量滴定　グラニュー糖の水分測定【カールフィッシャー水分】

滴定溶媒には溶解性の高いメタノールとホルムアミドの混合溶媒を使用！水標…

当アプリケーションデータでは、グラニュー糖の水分測定について ご紹介しています。 低力価の滴定液の標定において標準物質に純水を使用すると、純水の 添加量が10～20mgと少ないため正確な添加および秤量が困難になります。 そのため、標準物質にはアンプル入りで水分1％の標準液である 水標準品力価10を使用...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社HIRANUMA

Automotive SPICEプロセス構築支援

Automotive SPICEに基づいたソフトウェア開発プロセス改善…

車載ソフトウェア開発プロセスモデルである「Automotive SPICE」への 適合が、IATF16949や ISO26262等の国際標準で要求されています。 貴社の開発プロセスの国際標準適合を推進するため、 プロセス教育から 公式アセスメントまで、貴社のご要望に合わせた形でワンストップで ソリューション を提供致します。 ...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社

【分析事例】汚染原因となる工程の調査

手袋由来の汚染の評価

工程を調べるため、不良の原因となる薄い付着物が何に起因するかを調べる必要があります。EDXでCが検出され、XPSで定量を行った付着物について、TOF-SIMSで分析を行いました。各工程で使用している標準試料の手袋と比較をしたところ、手袋A, Bと似た傾向が見られました。更に、標準試料の手袋をSiウエハに付着させて検証をしました。その結果、手袋Aに類似していることがわかりました。標準試料をSiウエハ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】UVセンサ　AlGaN中不純物濃度の高精度評価

様々なAl組成のAlGaN標準試料をラインアップ

SIMS分析において、より確かな濃度定量値を算出するには測定サンプルと組成の近い標準サンプルを用いることが不可欠です。 紫外LEDやUVセンサに用いられるAlGaNについて、Al含有量に応じたAlGaN標準試料を幅広く取り揃えたことで、より高精度にAlGaN中不純物濃度を求めるこ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

機構・筐体　設計サービス

医療用X線装置や家電製品などのことなら当社にお任せください

る好適設計を行います。 ■Modeling　(データ作成) 　・2D図面からの立体形状や3Dデータからの2D図面の作成などを行います。 ■Design Support　(設計支援) 　・設計標準、3D標準形状の検討・提案や作成を行います。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： フォーテック株式会社

【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定

ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます

に起因するか調査することは、歩留まり向上に有効です。 液晶パネルの異物・汚れを評価した事例を紹介します。TOF-SIMSではμm～cmオーダーの洗浄残渣をイメージとして捉えることが可能です。また、標準スペクトルとの比較により、成分の推定が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［IC］イオンクロマトグラフ法

イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です

検出器には電気伝導度検出器、電気化学検出器、UV検出器、蛍光検出器、質量分析計等が用いられます。 カラムで分離した各イオン成分の保持時間はイオン成分ごとに異なるため、ピーク位置（保持時間）を標準試料と比較することで定性分析を行うことができます。また、測定強度と溶液中のイオン成分濃度が比例関係となるため、濃度既知の標準溶液との比較によりイオン成分の定量分析が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

『SAE＃2試験装置』

湿式クラッチの摩擦特性、潤滑特性等の評価試験を自動で行う装置のご紹介で…

『SAE＃2試験装置』は、「湿式クラッチ」及び「ATF」に関する摩擦要素の評価、解析可能な試験装置です。 ※JASO M348-2012対応 標準試験装置 【特長】 ■標準でインストールされている摩擦係数解析法により、各種の摩擦係数を安定して求めることができます。 ■理想に最も近い慣性吸収試験構造である、回転駆動部に接触する要素...

メーカー・取り扱い企業： オートマックス株式会社 本社・工場

【分析事例】熱履歴を考慮した異物の成分同定

熱履歴を揃えた標準試料の活用提案

ポリプロピレン（PP）などの高分子材料は、大気中で加熱されると大気中の酸素や水分と反応し、分子構造が変化します。そのため、異物や付着物が高分子材料の可能性がある場合、測定サンプルと同じ環境で処理した標準物質を比較データとして用いる必要があります。 熱処理（200℃/30分）によってPP標準物質がどのように変化するかを調べるため、FT-IR及びTOFSIMS測定を行いました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】深紫外LED中Mgの深さ方向濃度分析

様々なAl組成のAlGaN中不純物の定量が可能です

SIMS分析で不純物濃度を求めるためには、分析試料と同じ組成の標準試料を使うことが必要です。紫外LEDやパワーデバイスに使われているAlGaNについて、様々なAl組成のAlGaN標準試料を取りそろえることで、MSTではより精度の高い不純物の定量が可能です。 市販...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiGe中不純物の高精度定量評価

SIMS：二次イオン質量分析法

組成評価では、分析時に下記を考慮する必要があります。 ●Ge濃度に応じた適切な定量補正を行わないと不純物定量値は本来の値に比べて50%以上異なることがある。定量評価を行うためには各組成に応じた標準試料が必要。 ●SiとSiGeではスパッタリングレートが異なる事が知られている。組成が深さごとに異なる試料においては、深さごとにスパッタリングレートが変化する。 MSTでは、標準試料の整備に...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】アクリル樹脂の定性

TOF-SIMS分析による成分の推定が可能です

、加工性・透過率・安全性などが優れているため、有機ガラスとして航空機や自動車などの窓ガラス、レンズやプリズムなどの光学用器具・医療用材料・日用品・工芸品などの広い用途があります。代表的なアクリル系の標準試薬について、TOF-SIMSで質量スペクトルを取得しました。MSTでは分析対象の質量スペクトルと標準試薬の質量スペクトルとを比較することで、検出されたフラグメントイオンから、アクリル樹脂の推定が可...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［RBS］ラザフォード後方散乱分析法

固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱され…

roscopy）です。反跳粒子検出法（ERDA：Elastic Recoil Detection Analysis）とも呼びます。 ・BからUまでの元素の分析が可能(HFSによりHも可) ・標準試料を用いることなく定量分析が可能 ・深さ方向の組成分布が得られる ・他手法で得られた膜厚情報より、密度の算出が可能 ・重元素ほど感度がよく、精度が高くなる傾向にある ・非破壊分析...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

3次元汎用熱流体解析ソフト「PHOENICS」

熱流体解析ソフトのパイオニア 誰でも使える熱流体解析ソフト！数十万円…

●熱流体解析ソフト「PHOENICS（フェニックス）」は、 　プリ・ポスト・ソルバープログラムが標準で装備されています(※)。 　(※)PHOENICS基本的な一連の流れ 　解析条件設定⇒モデリング⇒解析実行⇒結果処理 ●形状定義やCADからのデータ読み込み、メッシュ作成、 　解析条件...

メーカー・取り扱い企業： ZWSOFT JAPAN株式会社

〈研究支援〉今抱えている課題を一緒に解決しませんか？

様々な研究支援アプリケーションを取り揃え、研究ステージに応じたアプロー…

〈株式会社ファスマックの強み・特長〉 ■世界水準の検査、製造技術 　ISO17025認証、ISTA認証、ISO9001認証 ■研究開発への取り組み 　GM食品標準分析法、GM種子スクリーニング技術、他多数 ■充実したインフラ、販売ルート 　各種DNA解析装置、技術者多数在籍 　各種研究機関への販売ネットワーク構築済 〈研究開発の実績※一部〉 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ファスマック

技術資料『VOCの試料をメスフラスコで希釈してみたら…』

VOC分析を正確に・もっと簡単に！不可能を可能にするための検証

有機化合物（VOC：Volatile Organic Compounds）について ■測定方法と試料の希釈 　・ガスクロマトグラフ－質量分析法 ■希釈の方法 ■特製メスフラスコの検証 　・標準原液の作成 　・評価基準用標準液の調製 　・希釈方法検証用試料の調製 　・測定条件 　・検証結果 ■おわりに ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ユニケミー

【分析事例】核融合炉用バナジュウム合金

低放射、高温強度、耐照射性！大同分析リサーチは新材料の開発をお手伝いも…

造についてご紹介します。 主成分はV-4Cr-4Ti。低放射、高温強度、耐照射性（耐中性子脆化）の 特長を有しており、EB,VAR溶解による極低O, N, C 溶製材で大型溶解による 世界標準試験材となっております。 大同分析リサーチは新材料の開発をお手伝いします。 お客様の目的に合わせた成分の提案も可能です。 【特長】 ■EB,VAR溶解による極低O, N, C 溶製材...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

パワーサイクル試験と特性評価

パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分…

chのデバイスを同時に試験 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の実施 ■最高200℃まで対応した冷却プレートを装備 ■TOパッケージ用の治具も標準で装備 ■水冷式のモジュールにも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステム

50MHz～6GHz帯の20～40MHz BWをノートPCに連続収録・…

収録には厳選したSSDを使用することで、極力データ落ちのない収録を行います。 複雑な操作は不要。 ソフトを起動し周波数を設定しボタンを押すだけの3ステップで収録開始。再生も3ステップで。標準添付のデータビュアーソフトを使えば波形の確認や切り出しも簡単です。 狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステムは、ノートPCとUSRPで構成されています。 50-6GHz帯を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ドルフィンシステム

【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価

TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価

大気下におかれた金属銅（Cu）の表面は自然酸化膜で覆われており、このような銅表面は大別して「Cu」「Cu2O」「CuO」「Cu(OH)2 」の状態にわけられることが知られています。 市販の標準品である「Cu2O」「CuO」「Cu(OH)2 」粉末をTOF-SIMSにより深さ方向分析を行うことで、各状態に応じて特徴的な分子イオンの取得が可能であることがわかりました。 これらの分子イオンを...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】極浅ドーパント分布の高精度分析

高い再現精度で評価可能

次イオンビームを用いたSIMS分析が必要になります。今回、B+を低エネルギーでイオン注入したSiウエハを1keVの酸素イオンビームを用いて、日をまたいで、6回測定した結果から算出したBの面密度の相対標準偏差は3%以下であり、極浅い不純物分布評価においても通常のSIMS分析と同様に高い再現精度が得られることが示されました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】半導体基板中軽元素の高感度分析

SIMS分析によりH, C, N, O, Fなどを1ppm以下まで評価…

cm3)以下の濃度まで検出可能です。実際のFZ-Si中における測定例（図1）とIII-V族半導体のバックグラウンドレベルを紹介します（表2）。III-V族半導体以外にも、金属膜・絶縁膜など各種材料で標準試料をとりえ揃えており、高感度な定量分析が可能です。半導体基板など各種材料のバルク分析や半導体プロセス中のガス成分の混入評価などに最適です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】成膜成分のウエハ裏面への回り込み評価

ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能

ル部から500umの範囲で裏面に残留する金属濃度分布を調査するため、TOF-SIMSを用いて評価を行いました。TOF-SIMSはベベル部近傍のみの金属成分を検出する空間分解能を有しており、濃度既知の標準試料を用いることで濃度を定量的に算出することが可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別

TEM-EELSにより、微小領域の元素同定・化学状態分析が可能です

膜した厚さ20nmの多結晶TiO2試料（写真1）について電子線プローブを約1nmΦ(FWHM)まで絞って測定を行いました。試料から取得したEELSスペクトルは、Ti, Oともにアナターゼ型TiO2の標準スペクトルと一致しています（図1, 2）。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SRAの濃度換算について

SRA：広がり抵抗測定法

１. 斜め研磨した試料面に2探針を接触させ直下の広がり抵抗（Ω）を測定する ２. 標準試料の測定より校正曲線＊）を作成し、それを用いて抵抗を比抵抗（Ω・cm）に換算するまた、必要に応じて体積補正による分布の補正を行う ＊)校正曲線は導電型(p型/n型)、および面方位によって異なりま...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 202303-02 イオンモビリティ質量分析計

東レリサーチセンターで導入したイオンモビリティ質量分析計の特徴と、ジス…

に ２．分析法の概要 ３．分析実例 ４．おわりに 【図表】 図１　TIMSデバイスの概略図 図２　断片化された抗体のヒンジ部 図３　ペプチド2種類のモビログラム 図４　同一質量の糖鎖標準品2種類の混合物のモビログラム 図５　クリーンナップ処理によるバックグラウンドの低減...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［SRA］広がり抵抗測定法

SRA：Spreading Resistance Analysis

斜め研磨した試料面に2探針を接触させ、直下の電気抵抗を測定します。 校正用標準試料の測定値と比較する事で、測定した拡がり抵抗を比抵抗（Ω・cm）に換算します。 さらに、比抵抗とキャリア濃度の関係を示すThurberの曲線を用いてキャリア濃度（/cm3）を算出します。 なお、...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

開発者向けプロセス指向のなぜなぜ分析

効果的な再発防止策を立案！分析を実施する中で使えるテクニックを紹介

ついて学ぶ研修 ■なぜなぜ分析の考え方､手法の説明とグループ演習で構成 ■ソフトウェア・ハードウェア開発など、開発に従事している方にお薦めの研修 ■研修時間9：30～17：00（オンサイト研修標準）※ご要望に応じて対応 ・なぜなぜ分析とは ・問題が発生する要因（演習1回） ・なぜなぜ分析の進め方（演習3回） ・グループ演習、発表会 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社

RoHS/ELVスクリーニング分析の受託サービス｜JTL

ED-XRFによるRoHS/ELVスクリーニング分析を実施します。

【特徴】 ●各種材質ごとの内部検量線選択 同じ濃度の元素でも共存元素(特に主成分元素）の影響をうけて蛍光Ｘ線強度が変わります。 ED-XRFは各種材質の検量線を内蔵しているため、標準試料不要で分析することができます。 ●しきい値を設定して判定可能 元素ごとにしきい値の設定をすることにより、管理基準に対して判定ができます。 しきい値から外れた場合、各種精密分析の実施も可...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社