• 【書籍】XAFS/EELSによる局所構造解析・状態分析技術 製品画像

    【書籍】XAFS/EELSによる局所構造解析・状態分析技術

    リチウム電池・燃料電池・触媒・錯体・高分子…構造・反応の本質を明らかに…

    各種の材料・デバイスの構造・反応解析に用いられる XAFS(X線吸収微細構造)とEELS(エネルギー損失分光法) その利用法を詳解するとともに、測定・解析事例を集成。 基礎・原理から活用・実践までをわかりやすくまとめた1冊です。...発刊  2014年9月29日  定価  55,000円 + 税 体裁  B5判ソフトカバー 240ページ  ISBN 978-4-86502-071-7 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社情報機構

1〜1 件 / 全 1 件
表示件数
30件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • ipros_bana_提出.jpg
  • IPROS12974597166697767058 (1).jpg