膜厚測定システム　SKOP

オーシャンオプティクス社分光器を使用した安価・簡易膜厚測定システム！

、 光学薄膜の分光反射率を測定し、そのスペクトルを解析することで薄膜の厚みを測定するシステムです。 基板上の薄膜はエタロンとして作用し、反射スペクトルに干渉パターンを引き起こします。 パターンの正弦波ピークの間隔は、材質の屈折率と膜の厚みに相関があります。 SKOPでは干渉パターンを専用のソフトウェアで解析することにより、膜の厚みに換算します。...

メーカー・取り扱い企業： オプトシリウス株式会社