• 【New】インライン型 超音波式ガスセンサ 製品画像

    【New】インライン型 超音波式ガスセンサ

    PRヘリウム/アルゴン/水素ガスを低濃度から高濃度までの測定に!

    ■配管内のガス濃度測定が可能 ■リアルタイム測定が可能 ■無線機能を搭載  データをPCに転送・保存。保存したデータを元に履歴を管理! 使用方法などの詳細はお気軽にお問い合わせください。 MoLeTELLは、日清紡ホールディングス株式会社の登録商標です。...対象検知ガス:空気中の水素(トレーサーガス含む)、ヘリウム、アルゴンガス(ガス種は選択ください) 濃度検知範囲、使用温度範囲、使用湿度...

    メーカー・取り扱い企業: 日清紡ホールディングス株式会社

  • エルコメーター456 膜厚計&ウルトラ・スキャンプローブ 製品画像

    エルコメーター456 膜厚計&ウルトラ・スキャンプローブ

    PR膜厚の超高速読み取り機能とBluetooth(R)による測定データの転…

    「エルコメーター456 膜厚計&ウルトラ・スキャンプローブ」は、 広い面積、多くの測定箇所で膜厚管理を要求される工事仕様で 素早く膜厚を測定し、データ編集・作成することができる膜厚計です。 毎分140回の速度で膜厚を測定することが可能で、測定値は膜厚計本体に保存。 保存されたデータはBluetooth(R)を使って、モバイル端末、PCに リアルタイムで転送、測定数値を編集アプリで管理することが...

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    メーカー・取り扱い企業: Elcometer株式会社 エルコメーター

  • ECLIA法による免疫関連項目の測定 製品画像

    ECLIA法による免疫関連項目の測定

    甲状腺関連項目、腫瘍マーカー、感染症などの測定が可能です

    ヒトの血液や尿などに存在するたんぱく質やホルモンを、高感度・高精度で迅速に測定します。 ECLIA法(電気化学発光免疫測定法)は、化学発光性物質で標識した抗体(抗原)に磁性粒子結合抗体(抗原)を反応させ、この免疫化合物をTPA(Tripropylamine)存在下の電極上で...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [DSC]示差走査熱量測定 製品画像

    [DSC]示差走査熱量測定

    DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評…

    量変化からサンプルの物性などを評価することができます。 ・ 融点・結晶化温度・ガラス転移温度・キュリー点・比熱などを確認することができます。 ・ 結晶化度・純度・反応速度及び結晶化速度などの測定に応用が可能です。 ・ 氷点下から測定できるため、自由水・結合水の評価が可能です。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • X線CTを用いたin situ測定の 受託分析サービス 製品画像

    X線CTを用いたin situ測定の 受託分析サービス

    加熱/冷却や応力・圧縮の負荷状態での三次元構造観察が可能です。

    ●引張り試験 試料を引張る方向に応力を印加した状態でX線CT測定をすることが可能です。 ●圧縮試験 試料を圧縮する方向に圧力を印加した状態でX線CT測定をすることが可能です。 ●温度調節 ステージの温度を調節した状態でX線CT測定をすることが可能...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 絶対PL量子収率測定 製品画像

    絶対PL量子収率測定

    絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

    絶対PL量子収率測定は、材料に吸収された光(エネルギー)に対し、どのくらいの効率で発光が得られるか、つまり材料の発光効率を求める手法です。 ・分光器付きの励起光源を用いているため、様々な波長(約350~800nm...

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  • [SRA]広がり抵抗測定法 製品画像

    [SRA]広がり抵抗測定

    SRA:Spreading Resistance Analysis

    SRAは測定試料を斜め研磨し、その研磨面に2探針を接触させ、広がり抵抗を測定する手法です。 SRP(Spreading Resistance Profiling)とも呼ばれます。 ・ 導電型(p型/n型...

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  • [SSDP用加工]基板側からの測定用加工 製品画像

    [SSDP用加工]基板側からの測定用加工

    基板側からの測定ができるように基板を削って薄片化

    元素分布を得られない場合があります。この問題を解決するために、薄片化加工を行った基板側(裏面側)からSIMS分析を行うのがSSDP法(Back-Side SIMS法)です。この手法により、試料形状や測定条件に起因する影響を受けることなく、より正確な元素分布評価が可能になります。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • NMR分析サービス 製品画像

    NMR分析サービス

    NMRで有機物から無機物まで、組成や分子構造を幅広く分析! 検討から…

    【分析事例】 ・電池/半導体:電解液の溶液 NMR や大気非曝露での多核・固体 NMR 測定 ・樹脂/ポリマー:樹脂成分やポリマーの組成・劣化解析が可能 ・食品/環境:食品・サプリメント中の成分の定量や劣化状態の分析 ・医薬/バイオ:薬物と受容体の相互作用の有無や強弱の測定が可能...

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  • [UV-Vis]紫外可視分光法 製品画像

    [UV-Vis]紫外可視分光法

    UV-Visは波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の…

    UV-Visは、波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の強度を測定することで、試料の吸光度や透過率を求める手法です。 吸光度測定により、試料中の目的成分の定性・定量分析や、試料の波長特性の評価が可能です。 また、透過率...

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  • 新型コロナウイルスPCR検査・抗体検査 製品画像

    新型コロナウイルスPCR検査・抗体検査

    感染を調べるPCR検査の他に、抗体価の測定が可能です

    新型コロナウイルスPCR検査 感染者の唾液や鼻咽頭ぬぐい液などに含まれる新型コロナウイルスのRNAを、リアルタイムPCR法にて測定します。PCR法は感度が高いため、ウイルス量がごく微量の場合でも検出が可能です。 新型コロナウイルス抗体検査 血清中に含まれる新型コロナウイルス抗体をECLIA法(電気化学発光免疫測定法)に...

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    EBSD分析(電子後方散乱回折法)

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界(対応粒界)観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・隣接結晶粒の回転角の測定が可能 ・透過法により10nm以上のグレ...

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  • [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法 製品画像

    [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法

    数十μm角程度の領域の測定が可能

    赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。 ・非破壊での測定が可能 ・真空下での測定により、大気成分であるCO2やH2Oの影響を除去することが可能 ・顕微測定により、数十μm角程度の領域の...

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  • [XPS]X線光電子分光法 製品画像

    [XPS]X線光電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…

    XPSは、X線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectrosco...

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  • [XAFS]X線吸収微細構造 製品画像

    [XAFS]X線吸収微細構造

    XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する…

    ・試料中の着目元素周囲の局所構造(原子間距離、配位数)や化学状態(価数、配位構造)の評価が可能 ・環境(高温・高圧・雰囲気)を問わず、測定が可能 ・様々な試料形態(固体・液体・気体、薄膜、非晶質物質など)の測定が可能 ・適用可能な濃度範囲が広い(主成分元素から微量元素まで) ・非破壊測定測定方法によっては、バルクだけでなく...

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  • 白色干渉計測法 製品画像

    白色干渉計測法

    非接触・非破壊で3次元測定可能

    白色干渉計測法は、高輝度白色光源を用いて試料表面を「広視野・高垂直分解能・広ダイナミックレンジ」で非接触(非破壊)三次元測定が可能な装置です。 ・高輝度白色光源を用いた表面形状測定装置 ・非接触・非破壊で三次元測定が可能 ・広い視野(50μm×70μm ~ 5mm× 7mm) ・高垂直分解能(0.1nm) ...

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  • [TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法 製品画像

    [TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法

    電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定

    EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。 TEMに付属している元素分析装置(EDX)と比較して、下記の特徴があります。 ・EDXに比べて軽元素の感度が良い ・EDX...

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