• 半自動真空枚葉貼合装置『R-ACSE430aa』 製品画像

    半自動真空枚葉貼合装置『R-ACSE430aa』

    PRアライメントマークありの場合、位置合せ精度±0.05mm!スリッター機…

    『R-ACSE430aa』は、コンベア式、カメラ位置数値制御タイプの 半自動真空枚葉貼合装置です。 300万画素カメラ4台による画像処理自動位置合わせ方式で、 上吸盤仕様は旋回式AL吸着パネル、下吸盤仕様は貼合コンベアベルト バックアックパネル仕様。 また、オプションでスリッター機能追加が可能です。 【仕様(一部)】 ■装置名称:R-ACSE430aa(コンベア式・カメラ...

    メーカー・取り扱い企業: クライムプロダクツ株式会社

  • 温度制御システムタンク『RKMH シリーズ』(加圧・真空タイプ) 製品画像

    温度制御システムタンク『RKMH シリーズ』(加圧・真空タイプ)

    PR撹拌真空、圧送、温度制御を1台で!加熱撹拌、真空脱泡、加熱などの用途で…

    電熱線の内蔵されたマントルヒーターをタンクに取り付け タンクを直接加熱しPID制御にて温度制御を行います。 温度制御は温度制御コントローラーにて調整可能です。 撹拌粘度、撹拌目的に応じて撹拌機・撹拌羽根を設計、製造します。 また、10L以外の容量も製作可能です。その他、ご要望に合わせてオーダーメイド製作致します。常圧仕様もお取り扱いしております。 詳しくはお...

    • 温度調整コントローラー.png

    メーカー・取り扱い企業: 加藤ステンレス科学株式会社

  • 150mm-200mm手動プローブシステム『WL-1160』 製品画像

    150mm-200mm手動プローブシステム『WL-1160』

    高い信頼性で正確なRF/mmW、DC、IV-CV、ハイパワー試験計測 …

    当社では、磁気もしくは真空吸着、又は固定式のRF/DC/HPポジショナー 対応のスチールプラテンを搭載した150mm-200mm手動プローブシステム 『WL-1160』を取り扱っております。 頑丈な設計、複数のセットアップと構成オプションで、様々なアプリケーションに対応可能。幅広いRF/DC/HPテストにご使用いただけます。 また、片手で操作できる XY ステージノブで素早い動きと微調整が可能...

    メーカー・取り扱い企業: 東機通商株式会社

  • TEMホルダー 「透過型電子顕微鏡用試料ホルダー」 製品画像

    TEMホルダー 「透過型電子顕微鏡用試料ホルダー」

    御客様の仕様に合わせて試作開発を承っております。

    北野精機では、透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM)の実験的な機器・部品を幅広く提供しています。 これらの製品は、生物、高分子、セラミックス、半導体、金属など多くの分野における基礎研究をはじめ、新製品の開発やその評価などに幅広く利用されております。 特にTEMホルダーは、研究者の要求に独自のアイデアを注入し、共同で開発され試料内部の...

    メーカー・取り扱い企業: 北野精機株式会社

  • マニュアルプローバ『LP-1』 製品画像

    マニュアルプローバ『LP-1』

    小型軽量!実体顕微鏡標準スタンドが使用できるマニュアルプローバ

    『LP-1』は、位置合わせが迅速に行える1インチタイプの マニュアルプローバです。 オプションにより、実体顕微鏡、トライアキシャルチャック、 ホットチャックも装着することができます。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■1インチサイズウエハープロービング ■位置合わせが迅速に行える ■針圧のオーバードラブ量の設定ができる ■大きさ、重さともコンパク...

    メーカー・取り扱い企業: ルフト有限会社

  • 200mm手動プローブシステム『WL-170-THZ』 製品画像

    200mm手動プローブシステム『WL-170-THZ』

    業界も認める高い信頼性で様々な測定アプリケーションに対応 Signat…

    当社では、広く強化したプラテンで「大面積ポジショナー」を搭載したSignatone社製200mm手動プローブシステム『WL-170-THZ』を取り扱っております。 RF /mmW、DC、IV-CV、ハイパワーテスト試験計測が可能です。 多種の差動/広帯域、周波数エクステンダー、自動インピーダンスチューナーに対応。エクステンダー/チューナーのロバスト設計とシームレスな統合で様々な測定アプリケーショ...

    メーカー・取り扱い企業: 東機通商株式会社

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』 製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』

    故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング

    『Park NX-Hivac』は、故障解析および環境の影響を受けやすい材料向けの 高真空原子間力顕微鏡(AFM)です。 高濃度ドープの半導体の正確な故障解析が可能。 また、当社のすでに認められた技術を用いることによって、高分解能で 高い再現性と操作性による低ノイズ計測を可能にした製品です。 【故障解析の為の高真空計測】 ■高速スキャンのための進化したStepScan自動機構...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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