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特許取得済のLCI技術を使用。バリ高さを非接触で自動測定できる!
測定する、 B+S社製の測定装置です。 特許取得済のLCI技術を使った測定です。 即座に表示されるミクロン単位のバリ高さを数千点で記録して レポート作成します。 スリット切断面と破断面を分析し、スリッターのオーバーラップと クリアランス調整設定を可能とします。 【特長】 ■バリ(かえり)高さを非接触で自動測定 ■測定に特許取得済のLCI技術を使用 ■ミクロン単位の...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケー・ブラッシュ商会 本社
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