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    半導体検査【コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード】

    様々な電子部品の検査をサポート!TOTAL TEST SOLUTION…

    チをはじめ、様々な検査条件に対応した「プローブカード」をラインアップしています。 検査条件の例 ・狭ピッチに対応(MIN P=80μ) ・大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査) ・非磁性検査(磁性を持たない材質で製作するプローブ) 長年培ってきた技術を活かし、より効率的な検査環境を提供すること、 より細かいご要望に応えられるよう、開発を続けております。 製品概要を資料にて...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社精研 本社

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    『半導体検査用コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』

    検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査ま…

    応できるため、 検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。 【対応例】 ◎狭ピッチ対応(MIN P=80μで製作) ◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作) ◎非磁性検査(磁性を持たない材質でプローブ製作) ◎その他:高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 ▼コンタクトプローブ ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプロ...

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    検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査ま…

    応できるため、 検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。 【対応例】 ◎狭ピッチ対応(MIN P=80μで製作) ◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作) ◎非磁性検査(磁性を持たない材質でプローブ製作) ◎その他:高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 <コンタクトプローブ> ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプ...

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