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PRヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印…
ヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印加により高品質かつフレキシブルな成膜をする装置です。 イオン源、ターゲット、基盤それぞれに対して独立した電流制御を行います。 複数のターゲットを搭載し、切り替えての多層成膜も簡単に行えます。同時にターゲット付近、基盤付近に独立したガス供給も行えるため、酸化膜・窒化膜をはじめとした様々な多層光学薄膜も成膜可能。新たな素材探索や成膜...
メーカー・取り扱い企業: ティー・ケイ・エス株式会社
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挟ピッチ対応P=0.2mmを実現!厳しい非磁性特性を求める現場で活躍。…
コンクタクトプローブを非磁性化するには材料や表面を見直すことが 必須ですが、実際にはそれだけでは製品は成り立ちません。 非磁性デバイスを測定する上でも非磁性であるのは当然として 検査対象の電極の特性に合わせた性能も持...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社精研 本社
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半導体検査【コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード】
様々な電子部品の検査をサポート!TOTAL TEST SOLUTION…
チをはじめ、様々な検査条件に対応した「プローブカード」をラインアップしています。 検査条件の例 ・狭ピッチに対応(MIN P=80μ) ・大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査) ・非磁性検査(磁性を持たない材質で製作するプローブ) 長年培ってきた技術を活かし、より効率的な検査環境を提供すること、 より細かいご要望に応えられるよう、開発を続けております。 製品概要を資料にて...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社精研 本社
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『半導体検査用コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』
検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査ま…
応できるため、 検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。 【対応例】 ◎狭ピッチ対応(MIN P=80μで製作) ◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作) ◎非磁性検査(磁性を持たない材質でプローブ製作) ◎その他:高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 ▼コンタクトプローブ ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプロ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社精研 本社
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測定対象デバイスに合わせプローブ先端材質・表面処理・先端形状等、各種選…
・弊社独自の合金材料を用い、PBフリーへのコンタクト性を高めたプローブ ・熱の影響による荷重低下を避ける特殊バネを採用した耐熱プローブ ・磁気センサー部品の検査にも使用可能なハイレベルな非磁性材料プローブ ・信号伝送特性を最大限向上した短尺高周波プローブ ユーザ様の様々なご要望にお応えします。 【特長】 ■長年の実績に裏付けられた優れた品質 ■豊富なラインナップ ■測...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社精研 本社
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コネクタ、チップ部品、電子基板等、様々な電子部品の検査に対応。プローブ…
)。 ・耐熱、大電流、低抵抗等特性UPのカスタム対応。 ■ハウジングも自社で製作 ・豊富な経験に基づく設計ノウハウ。 ・充実の設備で樹脂及びセラミック加工部品内製。 ・ご環境(耐熱、非磁性等)に合わせた材料選定可能。 ■設計・組立・配線・検査まで一貫生産 ・冶具全体での品質保証、バックアップが可能。 ・コネクタを配線して出荷も可能。貴社では装置に組み込むのみ。 ・優れたコ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社精研 本社
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『半導体検査用コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』
検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査ま…
応できるため、 検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。 【対応例】 ◎狭ピッチ対応(MIN P=80μで製作) ◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作) ◎非磁性検査(磁性を持たない材質でプローブ製作) ◎その他:高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 <コンタクトプローブ> ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社精研 本社
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