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PRフンケンオートフィーダーやミキサーなどの導入事例をご紹介
『粉体機器 導入事例集』は、粉研パウテックスが取り扱うフィーダーや ミキサー、DC制御盤などを導入された事例をまとめた事例集です。 当社は、粒体の精密計量を 独自の技術で開発し、数多くの発明によって 混合・加湿・混練・溶解・乳化等の連続自動化を可能にするなど、独自技術と ノウハウにより化学・窯業・医薬・食品・環境・土木など多くの業種の 『品質アップ』『コストダウン』『省力化』などに貢...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社粉研パウテックス 東京営業部
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PR酸性官能基が表面に多く付与された酸性の活性炭。アルカリの物性を持つ貴金…
『高酸性官能基炭(粒状)』は、官能基を通常品よりも多く持つ製品です。 官能基量upにより反応点(edge)が増大すると、反応点が増えます。 また、当社が取り扱うアルカリ賦活活性炭「マックスソーブ」は、 通常の活性炭に比べ3倍の3000m2を超える比表面積にすることが可能なため、 各種の高い吸着性能を発揮致します。 【特長】 ■官能基量upにより反応点(edge)が増大 ■高い...
メーカー・取り扱い企業: 関西熱化学株式会社(製造元:株式会社MCエバテック)
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金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です
走査イオン顕微鏡(Scanning Ion Microscope:SIM)は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察し...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察
質と結晶の関連性についての知見が得られますが、情報の深さが異なります。EBIC分布測定で電気的性質が特徴的であった箇所について、直交断面を作製し、奥行き方向のSTEM像観察を行いました。また、各結晶粒について電子回折を測定しました。これにより、電気的性質と結晶粒・結晶粒界の関係がより一層、明らかになりました。STEM観察および電子回折測定を行うことにより、特定箇所の結晶粒について局所的な情報を得...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析
薄膜多結晶太陽電池は低コスト次世代太陽電池として期待されています。大面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶粒評価を同一断面で行いました。CIGS膜の断面を作製し、電子ビームを走査することによって、起電流(EBIC)を測定し、起電流の面内分布を可視化しました。また、同一面のEBSDを測定することにより、起電...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。
電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM(Automated Crystal Orientation Mapping)-TEM法とも呼ばれます。 結晶粒径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能
・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能(Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る(SIM:4nm, SEM:0.5nm) ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能
。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界(対応粒界)観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・隣接結晶粒の回転角の測定が可能 ・透過法により10...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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EBSD:電子後方散乱回折法
薄片化した試料でEBSD分析を行うことにより、従来のバルク試料よりも高い空間分解能を得ることができます。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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一粒の粉体表面に分布する成分の評価が可能
リチウムイオン二次電池で使用される黒鉛負極粒子を塗布したシートを、TOF-SIMSにて分析した事例をご紹介します。一粒の粉体の表面にグラファイトとPVDFが分布している様子が確認できました。 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した解析
像シミュレーションを併用した結晶形の評価
高分解能HAADF-STEM像は、結晶の原子配列を反映した画像であることから、種々の結晶方位に対応したSTEM像をシミュレーションすることにより、多結晶体中の結晶粒間の相対方位や観察像の正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶粒について、EBSD法で得た結晶方位の情報からSTEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です
カードエッジコネクタについてIP加工後、反射電子像観察を行いました。 IP法と機械研磨法で作製した断面の反射電子像観察を行いました。 IP法ではCu結晶粒が明瞭に観察され、研磨キズもありません。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…
数十μm)のデポジション薄膜形成が可能(C・W・Ptの成膜) ・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM(Scanning Ion Microscope)像観察が可能 ・SIM像で金属結晶粒(Al, Cu等)の観察が可能...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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SEMによる結晶方位解析
CIGS薄膜多結晶太陽電池は低コスト化・大面積化・高品質化を期待されている次世代の太陽電池として開発が進められており、その際に結晶情報が必要とされています。EBSD法ではCIGS膜の結晶粒評価が可能です。 EBSD法で得られる結晶情報は主に配向性・結晶粒径などです。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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正極材料の導電性をSSRMを用いてマッピング
リチウムイオン二次電池の正極について、その形状と導電性をマッピングすることで、周囲と絶縁された結晶粒や劣化によって導電性が低下した活物質の分布を可視化することが可能です。 本事例では、リチウムイオン二次電池の正極を機械研磨によって断面を作製してSSRM測定を行い、統計処理によって材質の分布を推定...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XPS・SEM・TEMを用いた多角的な評価
燃料電池の電極は、カーボン担体に触媒粒子が担持された構造をしています。担体や触媒粒子がどのような状態にあるか評価することは、劣化メカニズム解明や設計指針の検討に欠かせません。 触媒被毒(酸化)の状態評価には、XPS分析が有効です。また...
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全体像から局所分布までイメージング評価可能
の試料について質量イメージング分析が可能です。 カプセル剤タイプ薬の断面についてTOF-SIMSによる質量イメージング分析を行いました。断面加工を行い、薬剤全体(約7mm×20mm)とその内部の顆粒一粒(約500μmΦ)に着目したイメージング事例をご紹介します。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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