• インパルスノイズ試験器 INS-S100 製品画像

    インパルスノイズ試験器 INS-S100

    PR電源ラインからの侵入や通信線などへの誘導ノイズによる電子機器の性能評価…

    インパルスノイズ試験器はスイッチングデバイスの接点間の放電、電子モーターから発生するアーク放電などによる立ち上がりの早い高周波ノイズを模擬的に発生させ、電子機器の耐性を評価する試験器です。 インパルスノイズ試験器INS-S100は、50Vからのパルス出力が可能で、製品開発時の回路基板や弱電部品などのノイズ耐性評価が手軽に行えるほか、市場での不具合発生時の解析などにも活用できます。 ○ ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ノイズ研究所(NoiseKen)

  • 耐薬品性クランプ「Eloclamp」 製品画像

    耐薬品性クランプ「Eloclamp」

    PR治具とブスバーの固定に使用!接触面積を増やして電流を流す効果が見込めま…

    「Eloclamp」は、電気メッキおよびアルマイト業界向けでも 使用出来る耐薬品性クランプです。 高品質のプラスチック製で、薬品や極端な温度下に対して 強い耐性があります。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【ラインアップ】 ■ELOCLAMP ■ELOCLAMP 高荷重タイプ ■ELOCLAMP パフォーマンス ■ELOCLAMP ブラックライン ■ELOCLAMP アク...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社河口・サポート 名古屋事務所

  • DPIイミュニティ試験システム(半導体向けEMC試験) 製品画像

    DPIイミュニティ試験システム(半導体向けEMC試験)

    全てのEMC試験(イミュニティ試験)の工数削減・効率化に!

    半導体(IC)へ変更する際の判定基準を確立させることで、半導体変更に伴うEMC試験の再実施を省略し工数削減を実現します。 ○ 製品開発のフロントローディングでDPI試験を実施することにより、EMC耐性の高い半導体を選定できEMC対策の工数削減が見込めます。 DPIイミュニティ試験法とは、IEC規格で標準化されている半導体(IC)用のイミュニティ評価方法です。 評価するICを搭載したテスト...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ノイズ研究所(NoiseKen)

  • 減衰振動波試験器(IEEE C37.90.1-2012規格対応) 製品画像

    減衰振動波試験器(IEEE C37.90.1-2012規格対応)

    スイッチなどの開閉器がON/OFF時に発生する繰返しの速い高周波のノイ…

    減衰振動波試験器は、スイッチなどの開閉器がON/OFF時に発生する繰返しの速い高周波のノイズを模擬して発生し、電子・電気機器の耐性を評価する試験器です。 IEC 61000-4-18(2006)規格の他、電力規格B-402(2007)規格やIEEE C37.90-2012 規格に準拠した試験ができます。 ※詳細はカタロ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ノイズ研究所(NoiseKen)

  • 『総合カタログ』SOLAR Electoronics 製品画像

    『総合カタログ』SOLAR Electoronics

    軍事製品試験や自動車試験で使われるEMCアクセサリー、ジェネレーターを…

    SOLAR Electoronics companyは、電子機器の電磁妨害に対する感受性、耐性など世界各国の規制、規格に準じて評価する為に必要な測定器、アクセサリーの設計製作を専門に行っています。 特に、MIL規格のEMC測定には欠かすことの出来ないLISN、トランジェントジェネレータ等は...

    メーカー・取り扱い企業: 日本オートマティック・コントロール株式会社 電子システム部

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