膜厚2Dマッピングシステム　FALCO

PR薄膜の厚さ分布を高速測定！

FALCO 膜厚2Dマッピングシステムは、おもにガラスや半導体ウェーハ上に形成された薄膜の厚さ分布を高速に、 また高い分解能で測定することのできるシステムです。 条件にもよりますが、数nmの薄膜からμmオーダーの比較的厚い領域（Si 換算）まで、 高い精度で値を確定することができます。...分解能: 0.001 nm 精度: NIST準拠ウェハ1000 nm<±1% 再現性: 0.01 nm(ア...

メーカー・取り扱い企業： オプトシリウス株式会社

厚膜フッ素樹脂コーティング対応立形ドライ真空ポンプTRVシリーズ

PR酸性・アルカリ性の高腐食性ガスの吸引に。厚膜フッ素樹脂コーティング(2…

ケミカルプロセスに適した立形ドライ真空ポンプ「TRV シリーズ」のラインナップに厚膜フッ素樹脂コーティングが加わりました。　　 ステンレスでは対応出来ない酸性・アルカリ性の高腐食性ガスを吸引するハードプロセスにも対応いたします。 独自の立形構造は、ガス流路が上部から下部へ流れるように配置されており、ガスと共に吸引したミストやポンプ内部で凝縮した液体は、吐出口まで流下し大気圧力下で容易に排出・回収...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇野澤組鐵工所

蛍光X線方式膜厚測定器 XULM

測定チャンバの下にＸ線源と検出器を配置しており、測定物を簡単かつ直接ポ…

X線源と検出器が測定チャンバ―の下側に配置されており、迅速かつ容易なサンプルのセッティングが行えるよう設計されています。 コンパクトな設計ですが、量産品の測定用に設計されており、大きなサンプルを測ることもできます。...詳しくは、お問い合わせもしくはカタログダウンロードから詳細がご覧いただけます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』

集光レンズタイプの蛍光X線式測定器！回路基板や微細構造部分の分析・測定…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』は、大型プリント回路基板と 部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された 集光レンズタイプ蛍光X線式測定装置です。 革新的なポリキャピラリ―レンズの採用により、非常に小さな 測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能。 また...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

コンパクト型蛍光X線方式測定器 XANシリーズ

下から照射型でコンパクト設計の蛍光Ｘ線膜厚・素材分析装置です。測定物を…

■　測定方向が下側から照射されるため、サンプルのポジショニングが容易 ■　シリコンドリフト検出器搭載により、高分解能・高感度な測定が可能（XAN250、XAN252） ■　コンパクト設計 ■□■ラインナップ■□■ ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 (X線検出器：PINタイプ） ■FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250（X線検出器：SDDタイプ)...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ