走査電子顕微鏡観察の受託サービス｜JTL

SEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。

走査電子顕微鏡観察サービスでは、SEMやFE-SEMを使用して、試料の表面の高倍率形態観察を行います。 SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。FE-SEM観察では走査型電子顕微鏡（SEM）より高倍率での観察が可能で、さらにEBSDによる結晶方位解析も実施可能です。また、SEM/FE-SEMに付属するEDXにて、元素分析を行うことも可能です。...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社