反射率測定装置MSP-100

微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定をかつてない低コストで実現

・特殊ハーフミラー（特許取得済）の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。（薄板0.2mmの反射率測定が可能：×20倍対物レンズ使用時） ・レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。（試料面に微小スポット（φ50μm）を結ぶ） ・低反射試料でも短時間で再現性の高い測定がで...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社渋谷光学