• 光学部材用金型洗浄機『クリピカエースOPT』 製品画像

    光学部材用金型洗浄機『クリピカエースOPT』

    PR輝度回復と歩留まり改善。光学部材用金型洗浄機『クリピカエースOPT』な…

    \非接触で洗浄!/ 光学部材用金型洗浄機『クリピカエースOPT』は、デリケートな光学部材用の金型に付着した汚れをノーダメージで完璧に除去します。ガス焼け、樹脂汚れに対応。ナノ、ミクロレベルの汚れも逃さず除去します。 【従来の光学部材の金型メンテナンス】 ●綿棒やスワブなどを使って手作業で行う ●キズがつきやすいため細心の注意が必要 ●充分に汚れが取れないことも ●有機溶剤を使用する...

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    メーカー・取り扱い企業: ソマックス株式会社

  • 新光電子-日亜化学工業株式会社の代理店30周年記念ページ公開 製品画像

    新光電子-日亜化学工業株式会社の代理店30周年記念ページ公開

    PR”光”を共に照らして30年

    当社は、日亜化学工業株式会社のLEDを販売して ちょうど30年の節目を迎える事となりました。 日亜化学工業株式会社の代理店30周年を記念したページを公開いたしました。 https://lp.shinkoh-elecs.jp/collaboration-30th-anniversary/...日亜化学工業が高輝度青色LEDという製品を発売して30年。 それとほぼ時を同じくして、当社は国内唯一の代理...

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    メーカー・取り扱い企業: 新光電子株式会社

  • 液晶ディスプレイの分光放射輝度・色度評価 製品画像

    液晶ディスプレイの分光放射輝度・色度評価

    コントラスト比や色温度などを測定可能!光学特性の変化を定量的に評価

    当社では液晶ディスプレイやOLEDなどの光学特性を分光放射計を用いて 測定できます。 試験前後に測定を行う事で、光学特性の変化を定量的に評価。 白および赤緑青の4パターンにて分光放射輝度を測定します。 輝度・色度・主波長など、さまざまな光学特性を測定することが 可能です。 【測定器概要】 ■測定項目:分光放射、輝度、色度 ■測定範囲:0.0005cd/m2~5,0...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 白色干渉計測法 製品画像

    白色干渉計測法

    非接触・非破壊で3次元測定可能

    白色干渉計測法は、高輝度白色光源を用いて試料表面を「広視野・高垂直分解能・広ダイナミックレンジ」で非接触(非破壊)三次元測定が可能な装置です。 ・高輝度白色光源を用いた表面形状測定装置 ・非接触・非破壊で三次元測定...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ディスプレイの測定サービス 製品画像

    ディスプレイの測定サービス

    最新,ディスプレイの測定評価と技術アドバイス

    り込みの評価: SMS-1000 ぎらつき光学評価システム □空間解像度評価:DT-8031 空間解像度評価システム □ディスプレイ基本特性:DMSシリーズ 光学特性評価システム  (輝度、色度、反射特性など) 詳細はお問合せ下さい。 ...

    メーカー・取り扱い企業: アフロディ株式会社 本社

  • ディスプレイの測定サービス 製品画像

    ディスプレイの測定サービス

    最新,ディスプレイの測定評価と技術アドバイス

    みの評価: SMS-1000 ぎらつき光学評価システム  □空間解像度評価:DT-8031 空間解像度評価システム  □ディスプレイ基本特性:DMSシリーズ 光学特性評価システム  (輝度、色度、反射特性など) 詳細はお問合せ下さい。 ...

    メーカー・取り扱い企業: アフロディ株式会社 本社

  • 【分析事例】液晶ディスプレイの劣化分析 製品画像

    【分析事例】液晶ディスプレイの劣化分析

    液晶、配向膜、シール材、TFTなどを総合的に評価します。

    液晶表示パネルの劣化メカニズム解明は、パネルの長寿命化にかかせない重要なテーマです。 劣化症状のうち輝度の低下は、液晶、配向膜、シール材、TFTと多岐に渡った要因が考えられます。 表面・構造・組成・計算科学等を複合的に分析します。良品と不良品のわずかな差異をとらえ、総合的な評価を行うことで、液晶ディ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 光学設計、シュミレーションの受託 製品画像

    光学設計、シュミレーションの受託

    光学設計、シミュレーョンを受託いたします。

    特徴】 ○LED、照明系シュミレーション SOLSTIS →SOLSTISはフランスのOPTIS社で開発されたシミュレータモテカルロ法により1000万本以上の光線追跡が可能です。 →発点形状、輝度分布設定きるLED広ストライプ レーザやン以上の光線追跡が可能です。 ○レーザ、集光系  ZEMAX →ZEMAXはアメリカのFOCUS社で開発された汎用光学設計ツールです。 →強力な自動設計...

    メーカー・取り扱い企業: エーエルティー株式会社

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