干渉計『ProView』

精密な計測と検査が可能！ファイバー素線端面向け干渉計／マイクロスコープ

『ProView』は、クラッドの直径が125～720pmのファイバー端面の 精密な計測と検査を可能とする高度な干渉計です。 本製品は、 簡単・迅速・非常に正確な端面検査が必要とされる 生産ライン向けに設計されています。 R&D環境およびファイバークリーブ工程内の用途にも適しています。 融着スプライサ・クリーバ・および他の準備ツールと 並んで使用できるコンパクトな設計。 USB...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ティー・イー・エム

【資料】解析事例

リポソームの構造解析や皮膚ラメラ構造解析など！30nmから5μmの切片…

当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った解析事例を 掲載しています。 「ウルトラミクロトーム」では、30nmから5μmの切片作製が可能。 生物組織、金属メッキ層や無機蒸着層を含む複合材料、ナノ粒子など 幅広い分野における高品質な超薄切片および断面作製に適応できます。 多数分析をお取り扱いしております。詳細はお問合せ下さい。 【掲載事例】 ■リポソームの構造解析 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所