脱墨・脱積層 - プラスチック・リサイクルの革新技術 -

PRKEYCYCLE DEINKING

脱墨技術 - KEYCYCLE DEINKING - は、フィルム表面に印刷されたインクを完全に除去することが可能です。この技術は世界でも類を見ないものであり、この技術を応用してフィルムやシート表面に塗工された物質の除去にも活用され、金属箔やMLCC離型フィルムの脱積層（シリコンやセラミックの除去）も可能です。 工程は、特殊なソルベントフリーの洗浄液に破砕した対象物を投入し、一定時間攪拌し、...

メーカー・取り扱い企業： 双日マシナリー 株式会社 環境・生活産業システム本部

強力波動エアー噴射ノズル「パタガン SPG／PGOシリーズ」

PR【展示会出展】広範囲を強力エアーブロー。水切り・油切り・除塵が効率的。…

『パタガン SPGシリーズ／PGOシリーズ』は、水切り乾燥・除塵などのエアーブロー作業の効率化を実現する“波動ノズル”を搭載したエアーガンです。 断続的な衝撃波を広範囲に及ぼすことで作業時間の短縮が可能になり、エアー消費量も節約できるため省エネ・省力化に貢献します。 コンプレッサーエアー用の「PGO-91型/91G型」をはじめ、広範囲の処理に適した「SPG-40型/40G型」、狭い範囲の処理に適...

メーカー・取り扱い企業： 大浩研熱株式会社

金属・導電性繊維の大気圧プラズマ処理サービス

金属の表面にも大気圧プラズマを照射することができる金属・導電性繊維の大…

当社では、有機溶剤や界面活性剤で除去しきれなかった油脂分を 分解・除去したり、表面に水酸基などの官能基を生成させることで、 塗装やコーティングと強く化学結合させることが可能な 金属・導電性繊維の大気圧プラズマ処理技術をご提供しております。 針の先端やエッジなどをプラズマ処理することや、 金属や導電性の素材表面であっても、 放電損傷を与えることなくプラズマ処理することができます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サンライン

浸透探傷検査（Penetrant Testing）

対応温度は常温～200℃！割れ及び円形きずを検出する能力に優れています…

『浸透探傷検査（Penetrant Testing）』は、材料表面に発生した 表面開口きずを対象とし、浸透液を塗布して毛細管現象により表面に吸い出し、 拡大され現れた指示模様を目視検査で知覚する方法です。 液体探傷剤を使用するため、形状複雑な試験体の細部のきずの探傷が可能。 様々な方向のきずに対応し、割れ及び円形きずを検出する能力に優れています。 磁性、非磁性、金属、非金属に関係...

メーカー・取り扱い企業： 計測検査株式会社

【分析事例】成膜成分のウエハ裏面への回り込み評価

ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能

半導体デバイス製造において、歩留まり向上の観点からウエハ裏面に残留する金属を除去することが求められており、金属成分の残留量を定量的に把握することが重要です。 ベベル部から500umの範囲で裏面に残留する金属濃度分布を調査するため、TOF-SIMSを用いて評価を行いました。TOF-SIMSはベベル部近傍のみの金属成分を検出する空間分解能を有しており、濃度既知の標準試料を用いることで濃度を定量的に算...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

異物分析の受託サービス｜JTL

製品や素材に混入した不明な異物を特定するため、様々な手法で分析致します…

不明な異物の性状を分析するためには、異物の大きさ、組成などの情報から適した分析方法を選択する必要があります。 また、異物が発生した周囲の環境情報や、異物が発生していない対象品のご提供も大きな情報となります。 JTLでは、異物分析によりお客様の課題解決をサポート致します。...【特徴】 ●金属のような異物の分析 異物が金属であることを予想された場合、ED-XRFにより、非破壊＆前処理不要で元...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【課題解決事例】リチウム化合物が装置や配管内に付着

液体金属循環試験装置で使われている液状リチウムが空気と化学反応を起こし…

工場内の液体金属循環試験装置で使われている液状リチウムが空気と化学反応を起こし、リチウム化合物となって装置や配管内に付着する不具合が発生したため、当社に洗浄の依頼がありました。 現地へ訪問して、付着物の溶解テストを行い、洗浄水の温度や洗浄剤の種類などを検討。安全かつ作業効率に優れた方法を選定し、換気装置、回収容器などの安全面を十分に考慮した作業を実施。 結果、内視鏡調査で付着物は完全に...

メーカー・取り扱い企業： 日本水処理工業株式会社 本社

【分析事例】Siウエハベベル部の汚染評価

金属成分と有機成分を同時に評価可能です

半導体デバイス製造において、歩留まり向上の観点から、ウエハの裏面の清浄度向上に加え、ウエハのベベル部に残留する物質を除去することが求められています。今回、ベベル傾斜面のTOF-SIMS分析を行い、汚染の分布を評価しました（図2）。また、付着物と正常部・汚染源のマススペクトルを比較し、付着物は汚染源の金属（Cr）成分・有機物成分と一致していることがわかりました。 TOF-SIMSにてベベル部（端面...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST