真空機器用　電流導入端子『MSコネクター』※真空展に出展します

PRMS（MIL-C-5015）規格のプラグに勘合するガラスハーメチックシ…

当社では、D-subをはじめ、MS（MIL-C-5015）規格のプラグに勘合する ガラスハーメチックシールの製造販売をしております。 フランジへの溶接等も行っておりますので、お好みのサイズで 真空容器の電流導入端子として使用して頂けます。 芯数のバリエーションは3・4・10・14・19・24・48と一般的なものからカスタム品まで対応可能です。 【特長】 ■MS（MIL-C-5015）規格のプ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フジ電科

半導体レーザ・光デバイス用3Dシミュレーター　PICS3D

PR新たにクロスライト社のFDFDが加わり、FDTDより計算がかなり速く高…

＜主な特徴＞ ■共振器方向の効果が重要なデバイスの設計・解析に適しています ■モード結合理論と多層膜光学理論によりDFB,DBR,VCSELのような回折格子を 含むレーザダイオードが計算可能 ＜多様な物理モデルや機能＞ ■ウェーブガイド・グレーティングの結合係数（１次、２次のグレーティング） ■縦方向のキャリア密度分布、主・副縦モードについての光学利得と光強度 ■２次グレーテ...

メーカー・取り扱い企業： クロスライトソフトウェアインク日本支社

パワーデバイスの逆バイアス試験（最大2000V）

不良基準（電流値）の設定が可能！高温及び高電圧通電によりデバイス劣化及…

株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準（電...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

高温ラッチアップ試験

高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…

のみ となっており、高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格（抜粋）】 ■JEDEC（JESD78E） ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室温､ClassII：最大使用周囲温度 ■JEITA｛JEITA ED4701／302（試験方法306B）｝ ・電流パルス印加法､電源過電圧印加...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

積層セラミックコンデンサ連続通電試験

試験基板の設計や作製から対応！複数の製品の実力を比較する有効な手法

当社の『積層セラミックコンデンサ連続通電試験』をご紹介します。 故障モードをショート(短絡)と仮定して高温・高湿の環境下で直流電圧 を連続通電しながら漏れ電流の変化を常時測定で把握する高温・高湿 連続通電試験が可能。 メーカー別、ロット別等の複数の製品の実力を比較する有効な手法の一つと 考えます。また、試験基板の設計や作製から対応いたします。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス