P-DUKE【XTBF500】伝導冷却 500W AC/DC電源

PR伝導冷却を利用し、厳しい動作環境用に設計された 超小型 500W AC…

P-DUKE社 XTBF500シリーズは、TBF500（フルブリックAC/DC電源）とその周辺回路を統合し「使いやすさ」をコンセプトにしています。 フルブリックモジュールと周辺デバイスを統合し、EMC規格 EN/IEC 50032 クラスB (CEクラスB、REクラスA) に準拠しています。 シャーシより放熱することで、周囲温度40℃でも負荷100％で動作し、過酷なアプリケーションや、厳しい環境条...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジェムコ

電動マイクロステージ『MS1218-UC』

PRバックラッシュがなく、高分解能動作が可能！駆動OFF時も正確に位置を保…

『MS1218-UC』は、PCとUSBケーブルで接続するだけでPCから動作を 指示できる小型、軽量な電動ステージです。 外部電源は不要で、手軽に電動ステージを使用可能。 圧電振動アクチュエータ使用により、バックラッシュがなく、 高分解能動作が可能で、駆動OFF時も正確に位置を保持します。 また、スリムな形状で狭いスペースでの使用が可能です。 PC用操作ソフトも準備されています。 【特長】 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ミクロブ

太陽電池EL画像測定装置　PVX330

太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…

2400万画素の高精細カメラ オートフォーカス 電源自動制御 大型モジュールの一括測定に対応 簡単しかも高性能な画像処理ソフト 従来機の1/3という低価格を実現 無料サンプル評価デモ受付中。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

顕微EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-μ

太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

太陽電池EL画像測定装置　PVX330

太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…

2400万画素の高精細カメラ オートフォーカス 電源自動制御 大型モジュールの一括測定に対応 簡単しかも高性能な画像処理ソフト 従来機の1/3という低価格を実現 無料サンプル評価デモ受付中。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-Octa

太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。

のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護効果、Local-BSFの評価などが可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。モジュールに逆バイアスを印加しLEAK点を観測することによりPID発症している欠陥箇所を簡便に特定します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-Octa

太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。

のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護効果、Local-BSFの評価などが可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。モジュールに逆バイアスを印加しLEAK点を観測することによりPID発症している欠陥箇所を簡便に特定します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

顕微EL/PLイメージング装置　PVX1000+POPLI-μ

太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス