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高倍率観察が可能!半導体デバイスの内部の観察や電気・電子部品の非破壊検…
。 赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能。 シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの内部の観察をはじめ、 ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査や、ウェハーや フリップボンダー用の位置決めにお使いいただけます。 【特長】 ■近赤外撮影用 ■近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現 ■赤外カメラとSWIR光源の...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学
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NIR テレセントリックレンズ『KCM-1DUMP-NIR』
固体中の異物混入や欠落品の検査などに!同軸落射のテレセントリックレンズ
株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-1DUMP-NIR』についてご紹介いたします。 同軸落射で、ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査や 固体中の異物混入や欠落品の検査などの用途にお使いいただけます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【仕様】 ■光学倍率:1 ■W.D.:65mm ■被写界深度...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学
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ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査にお使いいただけ…
します。 光学倍率は4倍、被写界深度0.08mm、分解能5.3μmなどの 仕様となっております。 固体中の異物混入や欠陥品の検査に、ソーラーパネルやLCDなどの 電気・電子部品の非破壊検査にお使いいただけます。 【仕様】 ■光学倍率:4 ■W.D.:65mm ■被写界深度(mm):0.08 ■分解能(μm):5.3 ■N.A.:0.12 ■光ディストーション(%...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学
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