• ハイパースペクトルカメラ SPECIM FXシリーズ 製品画像

    ハイパースペクトルカメラ SPECIM FXシリーズ

    PR可視域~中赤外域まで高速測定!

    非接触・非破壊で可視領域及び目では見えない 近/中赤外領域の2次元スペクトルデータを取得可能!...産業用および実験室用に設計されています。ラインスキャンモードで動作します。 ...

    メーカー・取り扱い企業: コニカミノルタジャパン株式会社 センシング事業部

  • 透過密閉型 マイクロフォーカスX線源『G-511シリーズ』 製品画像

    透過密閉型 マイクロフォーカスX線源『G-511シリーズ』

    PR先端半導体パッケージの非破壊検査に対応可能な 高解像度の X線源

    『G-511シリーズ』は、素早い画像取得ができ、ターゲットの 回転調整不要の透過密閉型マイクロフォーカスX線源です。 ウォーミングアップは3分以内で立上げ時の長い待ち時間を解消。 X線管寿命の自己診断機能で、計画的な装置保守に貢献します。 【特長】 ■ 110kV昇電圧1秒以内 ■ ターゲットメンテナンスフリー ■ ウォーミングアップ3分以内 ■ X線管寿命の自己診断機能 ■ オプションで1...

    メーカー・取り扱い企業: キヤノンアネルバ株式会社 栗木本社

  • NDK 非破壊検査装置 磁粉探傷検査/浸透探傷検査 他 製品画像

    NDK 非破壊検査装置 磁粉探傷検査/浸透探傷検査 他

    信頼性が高く、お客様のニーズに合う豊富な非破壊検査ラインナップ

    非破壊検査とは、金属をはじめとする各種の素材を「物を壊さないで、表面や内部の傷の有無やその程度を知り、その対象物を規格などの基準に照らして合格にしたり不合格にしたりすること」であり、「傷を探す」ことを探傷(たんしょう)といいます。非破壊検査の応用分野は材料・機器・構造物の製造時検査および運転後に行う検査(保守検査)など幅広い分野にわたっています。 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本電磁測器株式会社

  • 定置型LEDブラックライト『MIZ-500L』 製品画像

    定置型LEDブラックライト『MIZ-500L』

    非破壊検査や汚染チェックに!面倒な配線が不要な据付型LEDブラックライ…

    日本電磁測器の『MIZ-500L』は、磁粉探傷検査の観察の工程で 使用する紫外線を照射するライト(紫外線探傷灯)です。 磁粉探傷検査において、暗室でブラックライトを試験体に照射すると、 蛍光液・蛍光磁粉の指示模様が鮮明に発光するため、微細な傷を検知する ことができます。 当製品は据付型で瞬時点灯が可能。消費電力は従来機の1/5以下で ありながら、十分な紫外線照射能力を誇ります。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本電磁測器株式会社

  • 磁粉探傷装置 製品画像

    磁粉探傷装置

    磁化電源装置や磁粉探傷装置、ブラックライトなどが満載!

    試験体に蛍光磁粉を付着させてブラックライトを照射し、微細なキズを発見する非破壊検査装置『磁粉探傷装置』や、その検査をするために必要な『磁化電源装置』などを掲載。簡単・確実・低価格な製品と、ブラックライトなどの関連品まで取り揃えています。 【ラインアップ】 ■磁化電源装...

    メーカー・取り扱い企業: 日本電磁測器株式会社

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