【比表面積測定・粒度分布測定,etc.】受託分析マウンテック

【比表面積測定・レーザー回折式粒度分布測定・画像解析式粒度分布測定】粉体を総合的に分析・解析・評価いたします。

・粉体解析のプロフェッショナルとして、総合的な評価方法及び分析をご提案いたします。

・粉体物性分析に欠かせない「比表面積」「粒度分布」「画像解析」など総合的に測定いたします。

・検体数の多少に関わらずご対応させていただきます。

・製品購入検討のお客様向けに株式会社マウンテック社内にてデモンストレーション分析も行っております。（Mac-Viewについては、社外デモンストレーションも行っております）

詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。

関連リンク - http://mountech.co.jp/trust/analysis.html

基本情報【比表面積測定・粒度分布測定,etc.】受託分析

【特長】
■粉体解析のプロフェッショナルとして、総合的な評価方法及び分析をご提案
■粉体物性分析に欠かせない比表面積・粒度分布・画像解析を総合的に測定
■検体数の多少に関わらず対応いたします。

【測定機器/分析対象試料】
■BET比表面積測定
→粉体・成形体全般
■画像解析式粒度分布測定
→JpegやBitmap等の画像もしくは写真全般
■レーザー回折式粒度分布測定
→粉体全般　※水以外の溶媒を御希望の方はご連絡下さい
■走査型電子顕微鏡(SEM)撮影
→粉体・成形体全般
■ガス置換式真密度測定
→粉体・成形体全般

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