走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能（感度等）：～２０万倍
■試料をお送り頂きますと、試料台作成～画像撮影～画像ファイル（jpeg）変換を行い、お送り致します。
■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。
基本情報電子顕微鏡での受託観察
【主要設備】
・設備（機械名）：走査型電子顕微鏡（FE-SEM） S-4000（日立）
・主な仕様
倍率： ×100～300,000倍 （～100,000までは保証範囲）
試料台サイズ： 15mm（径）
加速電圧： 0.5～30ｋV
・機器の概略：試料表面に電子線を照射することで、試料表面からの反射電子を検出することにより、試料表面の形状を観察
・試料サイズの条件：最大試料サイズ： 15mm（径）×高さ10mm以下
・対象試料の条件：高分子材料、金属、セラミックスなどの固体試料（他は要相談）
・試料の前処理：E-1010イオンスパッター（日立）により金蒸着を行います。
【注意事項】
※試料に関する種類・注意事項等ございましたら、事前にお申しつけ願います。
※高真空状態で撮影しますので、湿潤サンプルはお受けすることができません。
| 価格帯 | 1万円 ~ 10万円 |
|---|---|
| 納期 |
お問い合わせください
※お気軽にご相談下さい |
| 用途／実績例 | 【観察例】 ■有機ポリマー ■細胞分析 ■各種半導体チップ ■各種粒子 ■各種金属表面 など |
取扱企業電子顕微鏡での受託観察
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