電子顕微鏡での受託観察

電子顕微鏡と観察画像例
走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能（感度等）：～２０万倍

株式会社魁半導体

■試料をお送り頂きますと、試料台作成～画像撮影～画像ファイル（jpeg）変換を行い、お送り致します。

■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。
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電子顕微鏡での受託観察　基本情報

【主要設備】
・設備（機械名）：走査型電子顕微鏡（FE-SEM）　S-4000（日立）
・主な仕様
　倍率：　×100～300,000倍　（～100,000までは保証範囲）
　試料台サイズ：　15mm（径）
　加速電圧：　0.5～30ｋV
・機器の概略：試料表面に電子線を照射することで、試料表面からの反射電子を検出することにより、試料表面の形状を観察
・試料サイズの条件：最大試料サイズ：　15mm（径）×高さ10mm以下
・対象試料の条件：高分子材料、金属、セラミックスなどの固体試料（他は要相談）
・試料の前処理：E-1010イオンスパッター（日立）により金蒸着を行います。

【注意事項】
※試料に関する種類・注意事項等ございましたら、事前にお申しつけ願います。
※高真空状態で撮影しますので、湿潤サンプルはお受けすることができません。

　

価格帯	1万円以上 10万円未満
納期	お問い合わせください ※お気軽にご相談下さい
発売日	2012年01月
用途／実績例	【観察例】 ■有機ポリマー ■細胞分析 ■各種半導体チップ ■各種粒子 ■各種金属表面　など
よく使用される業種	機械要素・部品、産業用電気機器、電子部品・半導体、光学機器、試験・分析・測定、環境、エネルギー、医療機器、医薬品・バイオ、教育・研究機関

電子顕微鏡での受託観察　取扱い会社

株式会社魁半導体詳細

・液体ソースを用いた堆積装置、表面改質装置等を含むプラズマを用いた各種半導体製造装置の開発、および製造販売・工業用石英ガラスの販売、および加工・委託研究による半導体製造装置の開発および製造販売・堆積代行、エッチング代行・半導体プロセスのコンサルティング業務

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