株式会社Wave Technology 【事例】熱抵抗受託解析・熱抵抗検査装置のご提供
- 最終更新日：2019-12-26 14:25:58.0
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『業界初の手法』！独自技（特許出願中）を用いて正しい解を導き出します。
・カスタムの熱抵抗検査装置
・半導体製品の熱抵抗解析受託（実測及びシミュレーション）
弊社独自技術により、曖昧な部分を多く含んだ半導体実製品PKGの熱抵抗解析を、これまでにない精度で検証することができます。
『業界初の手法』として特許出願中。
基本情報【事例】熱抵抗受託解析・熱抵抗検査装置のご提供
【特徴】
○弊社受託評価用システムの例
○最大10chでの並列測定が可能
○定電流、定電圧、定電力の3モードに対応
⇒2端子制御の制約内で定電力コントロールが可能
○定電流、定電圧、定電力の3モードにおいてPWMによる発熱動作が可能
○定常/過渡の両方に自動測定対応可能（過渡は条件付き）
○全波形情報を自動保存し、Viewer機能で集録可能
○新しいJEDEC規格である“JESD51-14”に対しても、検査装置自体は標準対応（冷却過程での測定）
●詳しくはカタログダウンロードしてください。
| 価格情報 | お気軽にお問い合わせください。 |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ○マイコン、ASIC等の機能デバイスから、PowerMOSFET、IGBT等のディスクリートデバイスまで、熱解析（実測とシミュレーション）を行なえる環境があります。 |
カタログ【事例】熱抵抗受託解析・熱抵抗検査装置のご提供
取扱企業【事例】熱抵抗受託解析・熱抵抗検査装置のご提供
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半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計
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