株式会社イオンテクノセンター 微少領域形態観察 透過電子顕微鏡（HR-TEM）
- 最終更新日：2019-03-18 11:47:35.0
- 印刷用ページ
物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています
主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。
【微少領域形態観察 透過電子顕微鏡（HR-TEM）】
○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の情報を提供する手法。
○薄膜の構造、結晶性の評価に適している。また高分解能観察により結晶構造の観察が可能。
●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
基本情報微少領域形態観察 透過電子顕微鏡（HR-TEM）
【特長】
○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の情報を提供する手法。
○薄膜の構造、結晶性の評価に適している。また高分解能観察により結晶構造の観察が可能。
●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
| 価格情報 |
- 詳細はお問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ・半導体デバイス構造観察 ・ 薄膜構造観察 ・ 結晶構造評価 ・ 局所組成分析 |
カタログ微少領域形態観察 透過電子顕微鏡（HR-TEM）
取扱企業微少領域形態観察 透過電子顕微鏡（HR-TEM）
-
-
1.受託物理分析 2.イオン注入加工
微少領域形態観察 透過電子顕微鏡（HR-TEM）へのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。
