誘導ESDによる誤動作検査装置【デモ機貸し出し!】東京電子交易

誘導ESDに対する耐性を備えているか検査する新発想の検査機「狭ギャップ放電耐性検査装置」。デモ機貸し出し、持ち込みテスト可能！

貴社の電子機器、システムのどこで誤作動が起きるか事前にチェックできる検査機。
デモ機の貸し出し、持ち込みテスト可能！お気軽にお問合せください。

■ポイント
電子機器内部で誘導ESD※が発生すると周辺の広帯域の電磁波を放射し、誤動作を誘発。その原理を利用し、誤動作部位を特定。

※誘導ESD：変化する静電気により静電誘導が生じ、これによる電位差が導体間の狭ギャップ（間隔0.1mm程度以下）に加わった時に起こる超高速静電気放電。

※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

◆詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください◆

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基本情報誘導ESDによる誤動作検査装置【デモ機貸し出し!】

狭ギャップ放電耐性検査装置 i-ESD-10A/20A

【i-ESD-10A 仕様】
・印加電圧：-700V～-17kV
・印加電極の寸法：170mm（l）×60mm（w）
・走査範囲：430mm×180mm
・AC電源：100V±10%、1Φ、50/60Hz、10W以下
・重量：約13Kg

【i-ESD-20A 仕様】
・印加電圧：-100V～-20kV
・印加電極の寸法：170mm（l）×60mm（w）
・走査範囲：無制限（手動、肩掛け使用時）
・内臓電池：フル充電で約4時間
・内臓電池充電時のAC100V：約50VA
・重量：約5.7Kg

※さらに詳しい仕様は、カタログにてご確認ください。
※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

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用途／実績例	狭ギャップ放電による電子機器・システムの誤動作検査

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取扱企業誘導ESDによる誤動作検査装置【デモ機貸し出し!】

東京電子交易株式会社

・ESD試験器・CDM試験器・LATCH-UP試験器・TLP試験器・DCテスタ・ゲートリック（GL）テスタ・超高速ACパラメータテスタ・エレクトロ・マイグレーション試験装置・dv/dtテスタ・半導体メモリ・ソフトエラー評価装置・オープン/ショートテスタ・TLPテストシステム　Model　4002/4012 ・ウェーハ・プローブ　Model 45001WP ・高速・高電圧パルス発生器　Model 632 (50ps/2.5kV) ・大電力用同軸機器・GP-IB, RS-232, イーサネット制御スイッチ･モジュール・PXIスイッチ・モジュール・PXI計測モジュール・VXIスイッチ・モジュール・PCIスイッチ・モジュール