株式会社ヒューブレイン「低価格版」ウエハ・チップ外観検査装置

最終更新日：2020-06-25 14:30:13.0
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ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が可能

「低価格版ウエハ・チップ外観検査装置 HMWF-A2000」は、高画素カラーカメラを搭載することにより、優れた検出能力を持ち、ウエハやダイシング後にチップの外観を高速で検査できる外観検査装置です。
ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が可能で、多様なパターンのチップの検査が可能です。

【特長】
■多様なパターンのチップ検査が可能です。
■不良項目毎に画像処理によって特徴を捉え、不良の分類分けを行う事が可能です。（カテゴライズ機能）
■蓄積されたソフトウェア技術により、装置としてのトータルコストを大幅に低減しています。

※詳しくはお問い合わせいただくか、カタログをダウンロードしてご覧下さい。

基本情報「低価格版」ウエハ・チップ外観検査装置

（オプション仕様）
・ローダー・アンローダー対応可能　
・ NGチップ排除機構対応可能
・高さ補正を行いながら検査が可能
・ NG箇所へのマーキング機構対応可能
・排出ミス、マーキングミスの確認機構対応可能
・ 2Dコード読み取り機構対応可能
・供給時にワーク位置が安定しない場合の補正機能
・ MAPデータの入力/出力

※詳しくはお問い合わせいただくか、カタログをダウンロードしてご覧下さい。

価格帯	お問い合わせください
納期	お問い合わせください
用途／実績例	【検査対象ワーク】 ○ＬＥＤチップ、レーザーチップなど半導体チップ　（チップサイズ：100µｍ～、各種パターンに対応） ○ウエハサイズ：2～8インチ（検査範囲Max 210mmの範囲内であれば可能） ○多様なリングやカセットに対応 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

カタログ「低価格版」ウエハ・チップ外観検査装置

「低価格版」ウエハ・チップ外観検査装置

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取扱企業「低価格版」ウエハ・チップ外観検査装置

株式会社ヒューブレイン

・多機能画像処理エンジン　Hu-Dra　　　・高速部品移載装置・バラ to トレイ外観検査装置　　　・電子部品6面外観検査装置・トレイ外観検査装置　　　・高機能卓上型外観検査装置　Hu-Cube ・通信／高周波部品、デバイスモジュール外観検査装置・自由角度外観検査装置　　　・小型ガラスパネル外観検査装置・ウエハ外観検査装置（ダイシング前）・ウエハチップ外観検査装置（ダイシング後）・円柱型部品全面外観検査装置・ステレオカメラ方式　高速＋高分解能3D検査システム　　　・計数機・容器外面印刷検査システム　　　・容器内面検査システム・シリンジ検査装置　　　・Lib極板外観検査装置・太陽電池セル外観検査装置　　　・ペレット・パウダ異物検査装置・切削工具検査装置　　　・シート外観検査システム　　等