HELIOSは、圧倒的な使い易さと驚異的な低ノイズレベルを誇るフェムト秒ポンプ・プローブ透過吸収測定装置です。革新的な光学系を採用し、610 × 915 mm というコンパクトなブレッドボード上に納まっています。ノイズレベル 0.0002 OD (代表値) の時間・波長・吸光度データを30分で取得できます。各社のフェムト秒レーザー対応可能です。
基本情報HELIOS フェムト秒ポンプ・プローブ過渡吸収分光測定装置
特長：
・世界中で豊富な実績
・最先端のCMOSセンサ採用で5kHzのレーザーにも対応
・シングルビームなので調整が容易。オプションでダブルビームにも拡張可能
・ビームアラインメントツールによる簡単なディレイライン調整
・オプションで8nsのディレイにまで対応
・チャープ補正、SVD、グローバル解析ソフトウェア付属
・サブナノ秒過渡吸収分光システムEOSとコンバイン可能
| 価格情報 | - |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | HELIOS |
| 用途／実績例 | ノイズレベル0.0002OD(typ.値)の時間・波長・吸光度データを30分で取得することが可能 |
取扱企業HELIOS フェムト秒ポンプ・プローブ過渡吸収分光測定装置
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1970年代ユニソクは最も高速性能(dead time:1msec)のストップトフロー装置を完成。マルチチャンネル分光測定装置を国内で最初に実用化し現在ではさらに高速な反応測定を実現。1983年には大気中トンネル顕微鏡を国内初の実用し半導体素子,磁気,光ディスクの研究分野で活躍。物理,化学,生物の広い分野へと開発を続け超高真空トンネル顕微鏡,走査型近接場光学顕微鏡,超高真空原子間力顕微鏡、極低温強磁場プローブ顕微鏡等を製品化し更なる研究分野に普及。また多数の研究者との共同研究を通じて応用研究を推進しています。特に超高真空走査型トンネル顕微鏡関連の製品では、業界一位の納入実績を達成しています。 また、極限環境下(超高真空、極低温、強磁場中)で観測可能な自社製走査型プローブ顕微鏡をはじめ、SPMの応用製品として開発した4プローブ電気特性測定装置等の最新の製品群を開発し、各種の基礎研究と応用研究に役立つ研究手段を提供しております。
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