NAND解析システム(SigNAS)
各メーカーのNANDフラッシュメモリの動作検証、エラー解析、エラー発生原因の切り分け、誤り訂正符号の効果測定などを容易に行うことができる解析システムです。ビットエラーレート、ECC後のページエラーレート、Data Retention や Program Disturb、Read Disturb によって発生するビットエラー、エラー発生分布などを測定することができます。
アルテラ社StratixIII FPGAを搭載したマザーボード、NANDフラッシュメモリ用TSOPソケットを搭載したドーターボード、Windowsベースの解析ソフトウェアで構成されます。
基本情報NAND解析システム(SigNAS)
各メーカーのNANDフラッシュメモリの動作検証、エラー解析、エラー発生原因の切り分け、誤り訂正符号の効果測定などを容易に行うことができる解析システムです。ビットエラーレート、ECC後のページエラーレート、Data Retention や Program Disturb、Read Disturb によって発生するビットエラー、エラー発生分布などを測定することができます。
アルテラ社StratixIII FPGAを搭載したマザーボード、NANDフラッシュメモリ用TSOPソケットを搭載したドーターボード、Windowsベースの解析ソフトウェアで構成されます。
価格情報 | - |
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納期 | お問い合わせください |
型番・ブランド名 | Sp3995 |
用途/実績例 | ■解析ソフトウェアでできること(抜粋) ・NANDインタフェースタイミングの設定(5nsec単位) ・NANDデバイスのID情報取得 ・ページサイズ、ブロックサイズの推定(手動) ・コマンドの発行(Erase, Program, Read) ・Programパターンの設定 ・Readデータのダンプおよびファイルへの保存 ・P/E Cycle ・スクリプト実行機能 ・エラーレート測定(BER, PER after ECC) ・ECCの訂正能力の設定(符号長、訂正可能数) ・Data Retention測定(自動グラフ表示) ・Program Disturb測定(自動グラフ表示) ・エラー分布解析(Page依存性とColumn依存性) ■動作可能なNANDデバイス ・ONFI2.1 準拠のデバイス(Synchronousは非対応) ・非準拠のデバイスでも動作することも多いです ・東芝、Samsung、Micron、Intel、Hynixの最新デバイスで動作確認を行っており、全て動作しています |
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