日商精密光学株式会社 スリット交錯式 深さ高さ測定機
- 最終更新日:2011-03-30 20:41:04.0
- 印刷用ページ
スリット光を使って高さ深さを1μm単位で無接触測定をする光切断型測定顕微鏡
スリット光を使って高さ深さを1μm単位で無接触測定をする光切断型測定顕微鏡です。
基本情報スリット交錯式 深さ高さ測定機
【特徴】
○投射スリット、落射照明、基準スリットの照明をハロゲンとファイバーの組み合わせに変更
○照明のエリアとスポットの輝度が安定した状態で長時間の測定作業に適合
○測定物の大型化に合わせて大きな試料台も積載
価格情報 |
- お気軽にお問い合わせください |
---|---|
納期 |
~ 1ヶ月 ※お気軽にお問い合わせください |
型番・ブランド名 | スリット交錯式深さ高さ測定機 |
用途/実績例 | 【用途】 ○厚膜ICの高さ測定 ○接着の為のシール剤の高さ測定 ○リードフレームピン先のバラツキ高さ変位 ○円盤上縁面の面取り高さ測定 |
カタログスリット交錯式 深さ高さ測定機
取扱企業スリット交錯式 深さ高さ測定機
スリット交錯式 深さ高さ測定機へのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。