【高周波基板】高速デジタル基板

PRそれぞれに適した高周波回路基板設計を実施！お客様にご満足して頂ける製品…

SDKが取り扱う『高速デジタル基板』をご紹介します。 お客様から頂いた仕様条件を元に、アナログ及びデジタルの高周波特性を 満たす基板材料を選定。 それぞれに適した高周波回路基板設計を行い、お客様にご満足して頂ける 製品を提供致します。また部品実装・調達までワンストップで実行することで御社の工程管理負担を代行いたします。 【仕様概略（一部）】 ■CPU：PEZY-SCプロセッ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＳＤＫ

ウルトラデフォームドワイヤー(モータ用コイルの占積率UPに！)

PRモータコイルの占積率UPに寄与する3D平角銅線です！

従来の集中巻きコイルに使用されるマグネットワイヤーは、丸の断面形状が主流です。 高占積率化を狙うため平角断面のワイヤーを使用する設計が分布巻きや集中巻きでも 取り入れられております。 当社の『ウルトラデフォームドワイヤー』は、独自の技術により、断面積は一定のまま 厚×幅のアスペクト比を変化させた平角線となります。そうする事で円周上に並んだ ステータコイルの隙間を埋める設計も可能となります。 必...

メーカー・取り扱い企業： ナミテイ株式会社

角度・変位 複合センサ

オートコリメータ　と　レーザ変位センサを一体化した複合センサです

さが同時に測定できます。さらに顕微鏡により測定ポイントの位置決めが容易に行えます。 −−　特　徴　−− ◆変位角・同時測定 ◆被測定ポイント顕微鏡モニター機能 ◆測定条件設定（相対基準・公差領域・処理方法他） ◆データ表示（測定公差領域・測定値座標プロット） ◆データ保存（測定条件・実測値） ◆データ通信（ＴＣＰ／ＩＰ　オプション） ◆小型・軽量 ◆高速測定 ...

メーカー・取り扱い企業： ファイブラボ株式会社

【導入事例】分光放射計Neoシリーズ

高い品質が求められるフィルターコーティングの精度を大幅に向上した事例を…

あっても、分光器の信頼性と予測可能なリニア応答を得ることが重要です。 この課題を解決するために、新型の分光放射計Neoのプラットフォームの採用により、 生産されるフィルターは現在、より厳しい公差に対応できるようになりました。 【事例概要】 ■課題 ・製造中のフィルターは、生成された層ごとに常に変化する ・分光器の信頼性と予測可能なリニア応答を得ることが重要 ■結果：生産される...

メーカー・取り扱い企業： Admesy Japan合同会社

光干渉測定器『NCG』

サイクルタイムを短縮！汎用性があり、簡単に使えるように設計されている光…

当製品は、様々なマシンに接続し、高精度かつ高速に部品の厚さ管理ができ、 スペック上の仕様制限内のドライまたはウェット環境で機械上または 機械内部で使用できます。 【特長】 ■目的の公差内の加工精度を保証 ■サイクルタイムを短縮 ■コントロールされた安定した生産を維持するための制御 ■機械的な変動に対する補正 ■測定結果の履歴 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お...

メーカー・取り扱い企業： マーポス株式会社

2波長ラインスキャンカメラ『BVC3220/3221LM』

オプションとしてSWIRレンズ6機種をご用意！SWIR帯域を2つに分け…

【仕様(一部)】 ■レンズマウント：M52 マウント ■フランジバック：46.5mm 公差:0 ～ -0.05mm ■動作温度/湿度：-5℃ ～ +45℃ / 20% ～ 80% (結露無き事) ■保存温度/湿度：-25℃ ～ +60℃ / 20% ～ 80% (結露無き事) ■外...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ブルービジョン

光学設計、シュミレーションの受託

光学設計、シミュレーョンを受託いたします。

ストライプ レーザやン以上の光線追跡が可能です。 ○レーザ、集光系 　ＺＥＭＡＸ →ＺＥＭＡＸはアメリカのＦＯＣＵＳ社で開発された汎用光学設計ツールです。 →強力な自動設計ツールによる最適化、公差解析やドキュメンテーションツールを備えています。 ○ノンシーケンシャル、照明系 ＯｐｔｉＣＡＤ →ＯＰＴＩＣＡＤはアメリカのＯＰＴＩＣＡＤ社で開発されたノンシーケンシャル光学シミュレーターです。...

メーカー・取り扱い企業： エーエルティー株式会社

ミクロンおよびナノ領域向け測定機『HELICHECK NANO』

オペレータへの依存性を排除！認定済みの精度により、生産性、品質および精…

ソリューションです。 微細光学センシング技術によって、直径0.1mm以上なら 極めて微細な形状も、確実に検出および評価を実施。 直径16mmまで対応し、自動化された工具処理により、 公差補正を含めた工程内の「品質管理」が可能となります。 【特長】 ■堅牢な花崗岩ベース ■VDI/VDE 2617規格に準じた測定頻度と方法で、認定された精度を保証 ■E1値（デフォルト）：...

メーカー・取り扱い企業： ワルターエワーグジャパン株式会社

【資料】ハイエンド分光放射計のための校正精度の向上

校正データの不確実性を低減し、分光放射計の測定において更なる高精度を目…

当資料では、分光放射計の精度を向上させるためのAdmesyの新しい 校正コンセプトをご紹介しております。 分光放射計の精度は、光学設計、製造時の公差など様々な要因に依存しており、 分光計自体の校正も正確な分光測定を実現するための重要な要素です。 分光放射計の校正における4つのステップから、従来の校正ランプの特性と限界、 従来の方法と比...

メーカー・取り扱い企業： Admesy Japan合同会社