【カタログ進呈！】高性能オシロスコープ　PicoScope

PR先端デバイスの開発など、優れた信号解析性能が要求されるアプリケーション…

高性能オシロスコープPicoScope 6428E-Dは、 既存のPicoScope 6000Eシリーズの性能を拡張したもの。 高エネルギー物理学、LIDAR、VISAR、分光分析、加速器、 および他の高速信号解析に取り組む科学者や研究者にとって理想的なツールです。 【特徴】 ・周波数帯域 ３ GHｚ ・最高サンプリング速度 10 GS/s ・分解能可変8－12ビット ・メモリ４GS ・アナロ...

メーカー・取り扱い企業： Pico Technology Ltd.

【高周波基板】高速デジタル基板

PRそれぞれに適した高周波回路基板設計を実施！お客様にご満足して頂ける製品…

SDKが取り扱う『高速デジタル基板』をご紹介します。 お客様から頂いた仕様条件を元に、アナログ及びデジタルの高周波特性を 満たす基板材料を選定。 それぞれに適した高周波回路基板設計を行い、お客様にご満足して頂ける 製品を提供致します。また部品実装・調達までワンストップで実行することで御社の工程管理負担を代行いたします。 【仕様概略（一部）】 ■CPU：PEZY-SCプロセッ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＳＤＫ

レーザー超音波受信装置　QUARTET

レーザー超音波受信装置、非接触、非破壊で対象物の厚さや内部欠陥が測定可…

・検出帯域(上限）：～80MHzまで ・検出帯域(下限）：1MHz(100kHz対応可。ご相談ください） ・ファイバー：マルチモード、長さはオーダー時に指定(標準は5m） ・サンプル上のスポット径：50...

メーカー・取り扱い企業： タレスジャパン株式会社

ポータブル渦流探傷器M2V3

世界最小最軽量のポータブル渦流探傷器M2V3

ELOTEST M2V3は2周波（ミキシング機能付き）を備え、マニュアル検査（表面割れ、ボアホールの内側欠陥、多層構造の内部欠陥）に最適であり、導電率と膜厚測定機能も可能です。 検査周波数帯域は10Hz-12MHzであり、全フィルタ機能（LP、HP、BP）により最適な信号処理を実現しています。 高解像度液晶ディスプレイにより、どのような環境光下においても見やすい、完璧なコントラスト...

メーカー・取り扱い企業： ローマン・ジャパン株式会社 ローマン・ジャパン株式会社

オーディオアナライザ FX100

高速で高精度なアナログとデジタルの測定。最少のケーブル接続と自動計測で…

ドなレベルレンジと-104dB typ.のTHD+Nを実現し、研究開発向けのオーディオ測定および音響解析を提供します。 ■周波数レンジ 5 Hz - 80 kHz/DC 80kHzまでの広帯域周波数とDC電圧の同時測定が可能です。すなわち、DCとオーディオ周波数帯域の解析を、同一の測定コンフィギュレーションで提供します。 ...

メーカー・取り扱い企業： エヌティーアイジャパン株式会社

オージオメータ検査システム - オーディオアナライザ FX100

周波数、音圧、ひずみを同時測定し、自動テストで合否判定＆データ保存を可…

ドなレベルレンジと-104dB typ.のTHD+Nを実現し、研究開発向けのオーディオ測定および音響解析を提供します。 ■周波数レンジ 5 Hz - 80 kHz/DC 80kHzまでの広帯域周波数とDC電圧の同時測定が可能です。すなわち、DCとオーディオ周波数帯域の解析を、同一の測定コンフィギュレーションで提供します。 ...

メーカー・取り扱い企業： エヌティーアイジャパン株式会社

シリンダブロックボア超音波探傷装置

機構部は駆動軸であるX軸、Z軸、R1軸、R2軸で構成！各々サーボ駆動で…

m ■水槽サイズ ・検査部：幅1300mm×奥行き770mm×高さ500mm ・水切部：幅480mm×奥行き340mm×高さ150mm ■超音波探触子：10MHz PF1.5(1Ch/周波数帯域：1MHz～15MHz/感度：0～80dB) ■動力源/空圧：供給電源 AC200V 3相/0.4Mpa以上 ■サイクルタイム：合計375秒(約6分15秒)～305秒(約5分)※ボア径：Φ33....

メーカー・取り扱い企業： 有限会社エヌ・ケイ・システム

超音波探傷器『DFX-8シリーズ』

汎用性に優れた高性能超音波探傷器、太陽光でも優れた視認性のBlanvi…

）、太陽光でも優れた視認性を実現するBlanview液晶ディスプレイにより、屋外でも安心して使用できます。 上位モデルのDFX-8+には、400Vのトーンバースト、0.5MHzと15MHzの狭帯域フィルター、水浸探傷用のインターフェースゲート、ラインでの自動検査を実現する外部コントロール・データ出力機能を搭載しています。 ■特徴 ・屋外でも見やすいBlanviewディスプレイ ・約...

メーカー・取り扱い企業： ダコタ・ジャパン株式会社

大画面ポータブル渦流探傷器ELOTEST M3

5.7インチ大画面液晶を備えた高性能ポータブル渦流探傷器

・10Hz-12MHzの広周波数帯域 ・全フィルタ機能（LP、HP、BP） ・大きなゲイン及びプリアンプ、各60dB ・2周波（個別可変、1プローブ） ・直感的な操作が可能なピクトグラフとテンキーによるメニュー操作 ・全プロ...

メーカー・取り扱い企業： ローマン・ジャパン株式会社 ローマン・ジャパン株式会社

AEセンサ計測解析ツール

内部劣化の非破壊センシング。構造物、機械設備の異常をいち早く検知

可視化する事ができるため、 金属、複合素材などの素材評価や金属製構造物、FRP構造物、コンクリート製構造物などの健全性を評価する方法として広く適用されています。AEセンサが対象とする弾性波は高周波数帯域ですので、環境音に影響されません。この性質を利用して工場や設備、インフラの故障予知と診断を、AEセンサを使用する事でAI化、IoT化する事も可能となり、自動化の進んだスマート工場の実現にも寄与します...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所

高分解能高速検査用の渦流探傷システムの最高峰PL500

製造ラインにおける渦流探傷システムで高分解能探傷と高速材料選別を両立。

この新製品シリーズの大きな特長は極低ノイズと高分解能同時検査の両立です。 100 kHzという超広帯域幅で復調後信号を完全デジタル処理することにより雑音指数（ノイズフィギュア＝NF）を極小化し、32 kHz（プローブからプローブまで）という超高速マルチプレクスを実現しました。 10 Hzから12 ...

メーカー・取り扱い企業： ローマン・ジャパン株式会社 ローマン・ジャパン株式会社

半導体電気特性評価テラヘルツ分光装置・テラヘルツエリプソメーター

複素誘電率（複素屈折率）の周波数依存性を計測可能な唯一の装置です。

テラヘルツエリプソメーターとは、光と電磁波の強化周波数である1THz,波長300μm前後の帯域で従来赤外線やミリ波と呼ばれ、この波長域の入射による反射楕円偏光の解析で、半導体の様々な電気的特性を算出する装置です。テラヘルツ波は透過性と物質の同定能力を備え、電波より短波長で微小観察に最適です。...

メーカー・取り扱い企業： 西華デジタルイメージ株式会社

SWIRカメラ CoaXPress I/F採用

400～1700nmの波長帯を検出し、可視＋SWIR画像を取得可能です…

400nm～1700nmの検出波長帯により、見えなかったワークの検査が可能なCoaXPressカメラが新登場！ カメラ1台で可視＋SWIR画像を取得できます。 【SWIR帯域下での検査のメリット】 ■可視光下では同色に見える被写体が、SWIR帯域下では水分浸透率により異なる色に映り、素材や内容物の違いが判別可能。 ■液体の種類により光を吸収したり透過するので、内容物...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス