バウンダリスキャンテスト JTAG

基本情報バウンダリスキャンテスト JTAG

ＢＧＡ/QFP搭載基板、狭ピッチコネクタ等の不良箇所をピンレベルで検査

バウンダリスキャンテスト JTAG の特徴は、BGA部分の品質をファンクションで保証すると製品全体の検査時間が増大し、結果、確実にBGAの実装保証が可能となり、不良原因の特定が短時間且つピンレベルで実現可能。

各種基板検査機（インサーキットテスタ、バウンダリスキャンテスタ、n=1チェッカー、V/Iトレーサ等）、ファンクションテスタ、各種テスタ用冶具、インラインプレス機、検査用アクセサリ

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