東京電子交易株式会社
最終更新日：2024-03-27 13:01:09.0
ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000Bシリーズ」
基本情報ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000Bシリーズ」
東京電子交易株式会社などを行っている東京電子交易株式会社の製品カタログです。
【掲載内容 ※詳しくはカタログをご覧ください】
ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000XB」は、最新のHBM試験(JEDEC-JS001)とラッチアップ試験(JESD78F)対応モデルになります。
HBM試験の回路構成を見直すことで、従来モデルよりハイスピードにピンセレクトができ試験時間の大幅な短縮を実現しました。
また、HBM放電時のプリパルス対策を施しており、安定した評価結果をご提供いたします。
本装置はラッチアップ試験で要求される、高温評価(サーモストリーマー)、大電流(最大100A)、ベクタ機能(プルアップダウン・クロック・パターン)、
多電源化(最大12)に対応しております。
ESD試験機/LATCH-UP試験機 「7000Bシリーズ」
Model7000Bは、従来のModel7000の後継機として開発された最新モデルです。最大システム1024ピンの高い拡張性とModel7000の評価ボード(DUT)を 流用できる利便性を兼ね備えています。
またリレーマトリックス構造の変更により、ラッチアップ試験用の電源は最大6電源に、デバイスの安定化やダイナミックラッチアップ試験 に必要なパターン供給はプログラム選択可能となり、使い勝手の面でも大きく向上致しました。
【特徴】
[LATCH-UP部]
○ラッチアップ検出電源の搭載数は、最大6電源
○Max-Hi Min-Low 3電源とクロック・パターン機能を標準搭載
○外部電源の追加 (オプション)
○155℃の高温ラッチアップ試験 (オプション)
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。 （詳細を見る）
取扱会社 ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000Bシリーズ」
・ESD試験器 ・CDM試験器 ・LATCH-UP試験器 ・TLP試験器 ・DCテスタ ・ゲートリック（GL）テスタ ・超高速ACパラメータテスタ ・エレクトロ・マイグレーション試験装置 ・dv/dtテスタ ・半導体メモリ・ソフトエラー評価装置 ・オープン/ショートテスタ ・TLPテストシステム Model 4002/4012 ・ウェーハ・プローブ Model 45001WP ・高速・高電圧パルス発生器 Model 632 (50ps/2.5kV) ・大電力用同軸機器 ・GP-IB, RS-232, イーサネット制御スイッチ･モジュール ・PXIスイッチ・モジュール ・PXI計測モジュール ・VXIスイッチ・モジュール ・PCIスイッチ・モジュール
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