東京電子交易株式会社
最終更新日：2024-03-27 12:57:29.0
ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000XB」
基本情報ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000XB」
東京電子交易株式会社などを行っている東京電子交易株式会社の製品カタログです。
【掲載内容 ※詳しくはカタログをご覧ください】
ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000XB」は、最新のHBM試験(JEDEC-JS001)とラッチアップ試験(JESD78F)対応モデルになります。
HBM試験の回路構成を見直すことで、従来モデルよりハイスピードにピンセレクトができ試験時間の大幅な短縮を実現しました。
また、HBM放電時のプリパルス対策を施しており、安定した評価結果をご提供いたします。
本装置はラッチアップ試験で要求される、高温評価(サーモストリーマー)、大電流(最大100A)、ベクタ機能(プルアップダウン・クロック・パターン)、
多電源化(最大12)に対応しております。
ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000Xシリーズ」
ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000Xシリーズ」では、１軸ロボットに取りつけたESDパルス発生ユニットでESDのモデルを決定します。
そのため、数年に1度はアップデートされる、新波形規格への対応が、ESDパルス発生ユニットのみの変更で対応でき、長期間ご使用いただけます。
また、最新規格対応から、古い規格へ戻して試験する事も容易にできます。
現在、規格案を討議中の、トランジェント・ラッチアップの規格等も、制定されれば、短時間で対応できます。
【特徴】
[LATCH-UP部]
○ラッチ・アップ規格JEITA、JEDEC等に適合
○ラッチ・アップ試験の最新規格、
入力ピン条件max HI／min LO を標準装備
○クロック／パターン発生器
○デバイス安定化機能
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。 （詳細を見る）
取扱会社 ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000XB」
・ESD試験器 ・CDM試験器 ・LATCH-UP試験器 ・TLP試験器 ・DCテスタ ・ゲートリック（GL）テスタ ・超高速ACパラメータテスタ ・エレクトロ・マイグレーション試験装置 ・dv/dtテスタ ・半導体メモリ・ソフトエラー評価装置 ・オープン/ショートテスタ ・TLPテストシステム Model 4002/4012 ・ウェーハ・プローブ Model 45001WP ・高速・高電圧パルス発生器 Model 632 (50ps/2.5kV) ・大電力用同軸機器 ・GP-IB, RS-232, イーサネット制御スイッチ･モジュール ・PXIスイッチ・モジュール ・PXI計測モジュール ・VXIスイッチ・モジュール ・PCIスイッチ・モジュール
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