AOI（外観検査装置）導入をご検討中のお客様へのご案内

外観検査装置をご理解いただくために「バナナの食べごろ検査」を実施しました

SUNZの外観検査装置は、従来の検査装置とは全く異なるソフトウェアを開発し搭載しています。

この違いを、もっとも簡単にご理解いただくために、バナナの食べごろ検査を実施いたしました。

当カタログでは、従来のロジックとは全く異なる「バナナ・ロジック」を使用して検査した結果を、シュガースポットの変化や、他社検査方式との比較などをグラフや図と共に掲載しています。

【掲載内容】
■AOI（外観検査装置）導入をご検討中のお客様へ
■検査原理（基本編）バナナのシュガースポットのしきい値について
■他社検査方式との比較偏
■検査原理応用編A　バナナの食べごろ検査
■検査原理応用編B　基板（PCB）検査　ほか

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。