【加振周波数0.5Hz～350kHzまで】MEMSセンサー開発試験・出荷検査向け加振システム

【基本スペック】
・周波数　0.5Hz～350kHz
・加速度　～600m/s2
・試験品重量　最大25kg
・サイン波、スイープ、フィールドデータ再現加振
・低周波数／磁場／温度／音響試験機など各種試験と組み合わせ可能
※数値はそれぞれ最大値です。装置構成、試験内容に依存します。


【用途例１　MEMSセンサー開発】
350kHzの超高周波数まで対応し、性能評価試験をはじめ固有振動数・共振周波数の探査などを行えます。
環境付加として磁場・温度・音響など各種環境試験装置とも組み合わせられ、様々な条件での試験を可能にします。


【用途例２　品質管理】
基盤製品の出荷試験・検査に適しており、不具合品の検知により品質水準の向上を見込めます。
最新機種「SE-16」や「SE-11」シェーカーでは5個までの試験品を同時に加振可能です。


【用途例３　モーダル解析】
高周波での振動解析以外にも低周波の機種では最大25kgの試験品まで搭載でき、構造体としての加振試験も可能です。
加振もサイン波、スイープ加振以外に実際の振動データを取り込みフィールド再現試験も可能です。 （詳細を見る）

【特徴】
SE-16、SE-11シェーカーは試験品をマウントする台座を直接加工することができ、同時に5つまでセットできます。
台座を直接加工することにより冶具を取り付ける必要がなく、高周波数での歪み・共振を低減しています。

【基本スペック】
●SE-16
・周波数　5kHz～100kHz
・加速度　～400m/s2
・試験品重量　～5グラム

●SE-11
・周波数　1kHZ～50kHz
・加速度　～400m/s2
・試験品重量　～10グラム

※数値はそれぞれ最大値です。装置構成、試験内容に依存します。 （詳細を見る）