株式会社清和光学製作所
最終更新日:2010-07-06 14:53:20.0
微分干渉マイクロスコープ MS-200-DIC2
基本情報微分干渉マイクロスコープ MS-200-DIC2
微分干渉マイクロスコープ MS-200-DIC2
微分干渉観察用同軸鏡筒
MS-200-DIC2
サンプル表面の微小な凹凸をコントラストをつけて観察することが可能です。
微分干渉マイクロスコープ MS-200-DIC2
サンプル表面の微小な凹凸をコントラストをつけて観察することが可能です。ポザザイザ、アナライザ、ノマルスキープリズムにはロック機構の付きのため、装置組み込み用としてもご使用いただけます。 (詳細を見る)
取扱会社 微分干渉マイクロスコープ MS-200-DIC2
光学機器の設計、製造、販売 1.顕微鏡 2.マシンビジョン及び周辺機器 (光学機器・照明機器・映像機器・FA実装及び半導体関連装置) 3.FPD及び半導体用製造装置 / 検査装置 (露光装置、検査装置、レーザ機器) 4.機器のサービス&メンテナンス 5.新市場向新開発製品
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