一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
最終更新日:2019-03-20 10:37:09.0
[SCM][SNDM]
基本情報[SCM][SNDM]
導電性コーティングされた探針を用いて半導体表面を走査し、キャリア分布を二次元的に可視化する手法です。
SCM分析(走査型静電容量顕微鏡法)およびSNDM分析(走査型非線形誘電率顕微鏡法)における下記の情報を掲載しております
・装置概観
・特徴
・適用例
・原理
・装置構成
・データ例
・データ形式
・仕様
・料金
・速報納期
・必要情報
・注意点
取扱会社 [SCM][SNDM]
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