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最終更新日:2018-04-19 14:02:12.0

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  • カタログ発行日:2018/03/01

ガラス基板用光干渉式膜厚自動測定装置NanoSpec6500S

基本情報ガラス基板用光干渉式膜厚自動測定装置NanoSpec6500S

高信頼度、高精度、高速、自動多点測定

高信頼性:多数の納入実績を誇る業界標準機
高精度:測定再現精度2A
高速:リニアアレー受光素子を採用
自動多点測定:オートステージで最大10,000ポイント測定可能
特長:標準スペックで多層膜測定可能、光学定数分析可能

取扱会社 ガラス基板用光干渉式膜厚自動測定装置NanoSpec6500S

東朋テクノロジー株式会社

【ビジネスフィールド】 ■エネルギー ■IT・情報通信 ■研究開発 ■水・環境 ■新規事業開発

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