ウェハ品質測定装置　VWECER2500　※カタログ進呈中

ウェハ１枚当たり約10秒で短い時間で測定でき検査工程を短縮！不良セルを従来よりも早い段階で発見し製品歩留まりを向上

太陽電池インゴット・ウェハメーカーおよびセルメーカー様へ朗報です。
ウェハ１枚当たり約10秒で短い時間で測定でき検査工程を短縮できるウェハ品質測定装置です。
■Solution for the Clystal Technology
弊社が開発した測定技術(HS-CMR法)を搭載した太陽電池用シリコンウェハ品質測定装置は、
太陽電池用シリコンウェハの品質をセルにすることなく正確に測定することができます。
得られたデータを解析することにより、太陽電池製造コストの削減や品質向上に寄与します。

【特　長】
◆変換効率との高い相関性
◆１枚あたり約10秒と短い時間で測定
◆シンプルな装置構成

※詳しくはカタログをダウンロード頂くか、お気軽にお問い合わせください。